[发明专利]测量设备和测量方法有效

专利信息
申请号: 201310019942.X 申请日: 2013-01-18
公开(公告)号: CN103217147A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 关晃仁;冈田隆三 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00;G01C11/08
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈松涛;夏青
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测量 设备 测量方法
【权利要求书】:

1.一种测量设备,包括:

显示控制器,被配置成在显示单元上显示从不同视点拍摄的多幅图像中的第一图像;

设置单元,被配置成设置所述第一图像上的测量位置;

第一计算器,被配置成计算所述多幅图像中的不同于所述第一图像的第二图像上的与所述测量位置对应的对应位置;

第二计算器,被配置成使用所述第一图像、所述测量位置、所述第二图像以及所述对应位置来计算所述测量位置的三维位置和所述三维位置的误差;以及

选择单元,被配置成当每次所述第二计算单元计算所述三维位置和所述误差时,确定所述多幅图像的多个图像对中是否存在所述三维位置的误差小于所述第二计算器计算的所述误差的图像对,并且所述选择单元还被配置成当存在所述图像对时,选择所述图像对,但是当不存在所述图像对时,决定所述三维位置,

其中,当每次所述选择单元选择所述图像对时,所述第二计算器使用在所述图像对中包括的新的第一图像、所述三维位置被投影到所述新的第一图像上的第一投影位置、在所述图像对中包括的新的第二图像、以及所述三维位置被投影到所述新的第二图像上的第二投影位置,来计算所述测量位置的新的三维位置和误差。

2.根据权利要求1所述的设备,

其中,所述选择单元通过使用表示从三维坐标系统到图像坐标系统的变换的投影矩阵将所述三维位置投影到在所述图像对中包括的每幅图像上来设置投影位置,并且所述选择单元基于每个投影位置计算所述图像对中的所述三维位置的所述误差。

3.根据权利要求2所述的设备,

其中,所述选择单元在每个投影位置周围执行关联操作,并且当表示关联值的平滑度的值不满足第一阈值时,所述选择单元对所述图像对的所述三维位置中的所述误差给出罚值。

4.根据权利要求1到3中任一项所述的设备,

其中,当存在所述三维位置的所述误差小于所述第二计算器计算的所述误差的多个图像对时,所述选择单元选择所述三维位置中具有最小误差的图像对。

5.根据权利要求1到4中任一项所述的设备,

其中,当所述第一图像包括在所选择的图像对中时,所述选择单元将所述第一图像设置为所述新的第一图像,并且将另一图像设置为所述新的第二图像。

6.根据权利要求1到5中任一项所述的设备,

其中,所述第一计算器执行所述第一图像和所述第二图像的关联操作,以计算所述对应位置,并且

所述第二图像是所述多幅图像中的与所述第一图像具有最高关联的图像、与所述第一图像的关联满足第二阈值的图像、拍摄时间最接近所述第一图像的图像、或拍摄时间与所述第一图像相隔最久的图像。

7.根据权利要求1到6中任一项所述的设备,

其中,所述显示控制器在所述显示单元上显示设置了所述对应位置的所述第二图像,并且

所述设置单元校正并重设所述对应位置。

8.根据权利要求1到7中任一项所述的设备,还包括:

转换器,被配置成执行图像转换,以将所述新的第一图像的旋转方向与所述第一图像的旋转方向匹配,

其中,所述显示控制器在所述显示单元上显示设置了所述第一投影位置并且执行了所述图像转换的所述新的第一图像、以及设置了所述第二投影位置的所述新的第二图像,并且

所述设置单元校正并重设所述第一投影位置和所述第二投影位置的至少之一。

9.一种测量方法,包括:

通过显示控制器在显示单元上显示从不同视点拍摄的多幅图像中的第一图像;

通过设置单元设置所述第一图像上的测量位置;

通过第一计算器计算所述多幅图像中的不同于所述第一图像的第二图像上的与所述测量位置对应的对应位置;

通过第二计算器使用所述第一图像、所述测量位置、所述第二图像以及所述对应位置来计算所述测量位置的三维位置和所述三维位置的误差;以及

当每次所述第二计算单元计算所述三维位置和所述误差时,选择单元确定在所述多幅图像的多个图像对中是否存在所述三维位置的误差小于所述第二计算器计算的所述误差的图像对;以及

当存在图像对时,所述选择单元选择所述图像对,但是当不存在图像对时,所述选择单元决定所述三维位置,

其中,在计算所述三维位置和所述三维位置的所述误差时,当每次所述选择单元选择所述图像对时,使用在所述图像对中包括的新的第一图像、所述三维位置被投影到所述新的第一图像上的第一投影位置、所述图像对中包括的新的第二图像、以及所述三维位置被投影到所述新的第二图像上的第二投影位置,来计算所述测量位置的新的三维位置和误差。

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