[实用新型]紫外光掩模板检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶面板制造领域，特别涉及一种紫外光掩模板检测系统。

背景技术

在生产制造薄膜晶体管液晶面板（Thin Film Transistor-LiquidCrystal Displays TFT-LCD）的过程中，其中有一道工序是将玻璃基板表面的封框胶进行预固化。而封框胶的预固化，即需要利用紫外（UV）光进行照射，同时又要避免液晶被照射（液晶被照射后会发生变性，产生不良），因此需要有其他物件将紫外（UV）光遮挡住，该遮挡物即我们所用的紫外光掩模板。

因为紫外光掩模板是消耗品，在使用的过程总是会出现漏光等不良现象，现实生产制造过程中，通常采用人工目测检测的方式对紫外光掩模板进行检测，需要人员进入设备内部近距离的对实物进行检查，而这种动作存在对人员伤害的风险，人员对紫外光掩模板进行检查时，存在一定的误判性，因检查人员的不同判定的结果也不同；同时人工检查时也存在一定的死角，所以大大增加误判的概率，这对产品的生产也带来一定的不良隐患，大大增加产品的生产成本，采用人工检查的方式，在检测过程中人员容易接触紫外光掩模板，对产品的质量带有一定的威胁性。

实用新型内容

（一）要解决的技术问题

本实用新型要解决的技术问题是：如何提供一种紫外光掩模板检测系统，能够无需人员对紫外光掩模板检测，实现紫外光掩模板的自动检测，提高紫外光掩模板检测的准确率和精确度，提高紫外光掩模板检测的效率，从而节省成本和时间。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种紫外光掩模板检测系统，该系统包括：设备机架、构台、图像采集装置、感光处理系统和处理控制器，所述构台位于所述设备机架上端并与所述设备机架滑动连接，所述图像采集装置和感光处理系统设置在所述构台上。

优选的，所述感光处理系统包括：发光装置和感光装置，所述发光装置位于待测紫外光掩模板上方位置，所述感光装置位于待测紫外光掩模板下方并且与所述发光装置设置在同一竖直平面上。

优选的，所述感光装置通过固定部件与所述构台连接。

优选的，所述感光装置为光传感器。

优选的，所述构台上设置有构台导轨，所述发光装置通过构台导轨与所述构台连接。

优选的，所述发光装置的数量至少为1个，所述感光装置的数量至少为1个。

优选的，所述发光装置与感光装置的数量一致。

优选的，所述图像采集装置设置在所述构台导轨上。

优选的，所述图像采集装置为照相机或摄像机。

优选的，所述图像采集装置的数量至少为1个。

优选的，所述设备机架设置有机架导轨，所述构台的底端两侧通过机架导轨与所述设备机架滑动连接。

（三）有益效果

采用本实用新型的紫外光掩模板检测系统，无需人员对紫外光掩模板检测，降低了对检测人员的危害，提高了紫外光掩模板检测的准确率和精确度，检验范围内无死角，并且避免了人工方式检查对紫外光掩模板造成的伤害，提高了紫外光掩模板检测的效率，大大降低了成本和时间。

附图说明

图1是本实用新型紫外光掩模板检测系统的结构示意图；

图2是本实用新型紫外光掩模板检测系统的设备机架结构示意图；

图3是本实用新型紫外光掩模板检测系统的构台结构示意图：

图4是本实用新型紫外光掩模板检测系统的感光装置及固定部件结构示意图

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

实施例1

本实用新型的一种紫外光掩模板检测系统，如图1所示，该系统包括设备机架1、构台2、图像采集装置3、感光处理系统等。

设备机架1起到承载和导向等作用，如图2所示，设备机架两侧设置有机架导轨7，设备机架的两侧机架导轨之间均匀设置有支撑柱8，所述支撑柱8上设置有石英棒，石英棒的材质是SiO₂，光线可以顺利的通过，且损失率较小，对测量几乎没有影响，所述石英棒形成的平面为检测平面，用于承载紫外光掩模板。

设备机架1还连接有构台2、马达、电源柜等，所述构台2底端两侧与所述机架导轨7滑动连接，使得构台2能够在设备机架1上滑动，马达用于提供动力，电源柜用于提供电源。