[实用新型]一种带屏蔽功能的射频测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种射频测试装置，尤其涉及一种带屏蔽功能的射频测试装置。

背景技术

在对RFID卡进行射频测试时，往往要求一个比较高的测试环境，防止外界电磁干扰影响测试结果。现有技术中采用RFID射频测试屏蔽盒对RFID卡进行射频，但由于市面上的屏蔽箱体由于结构设计不合理，存在使用操作繁琐和屏蔽效果不好的缺陷，已经不能满足人们的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种操作简单易行、结构合理且屏蔽效果好的带屏蔽功能的射频测试装置，解决现有技术存在的缺憾。

本实用新型采用如下技术方案实现：

一种带屏蔽功能的射频测试装置，其特征在于，包括一个金属材质的屏蔽箱体，所述屏蔽箱体的侧壁设置有至少一个卡座，所述卡座上具有用于放置RFID卡的连接卡口，所述连接卡口与所述RFID卡电气连接，所述卡座通过线缆与屏蔽箱体内的低频一致性测试板相连接，在所述屏蔽箱体上与所述卡座相对的一侧设计有PCB板连接口，所述低频一致性测试板与所述PCB板连接口相连接，所述屏蔽箱体的顶部设置有天线，所述天线与屏蔽箱体内的低频一致性测试板相连接，天线与屏蔽箱体顶部的连接部位设置有屏蔽端，所述屏蔽端为复合层结构，包括一个橡胶层，所述橡胶层的底部与屏蔽箱体的顶端粘接，还包括一个金属层，所述金属设置在所述橡胶层的上边，并与所述橡胶层粘接。

进一步的，所述PCB板连接口通过连接座安装在所述屏蔽箱体上。

本实用新型具备的有益技术效果是：

低频一致性测试板安装在金属材质的屏蔽箱体，屏蔽箱体能够屏蔽掉大部分的电磁干扰，天线虽然穿出屏蔽箱体，理论上存在漏磁漏电的可能，但由于安装了屏蔽端，且将屏蔽端设置为复合层结构，故能够防止漏磁漏的现象发生。

附图说明

图1是本实用新型带屏蔽功能的射频测试装置的结构示意图。

具体实施方式

通过下面对实施例的描述，将更加有助于公众理解本实用新型，但不能也不应当将申请人所给出的具体的实施例视为对本实用新型技术方案的限制，任何对部件或技术特征的定义进行改变和／或对整体结构作形式的而非实质的变换都应视为本实用新型的技术方案所限定的保护范围。

如图1所示的带屏蔽功能的射频测试装置，包括一个金属材质的屏蔽箱体1，屏蔽箱体1的侧壁设置有至少一个卡座3，卡座3上具有用于放置RFID卡的连接卡口，连接卡口与RFID卡电气连接，卡座3通过线缆与屏蔽箱体1内的低频一致性测试板2相连接，在屏蔽箱体1上与卡座相对的一侧设计有PCB板连接口7，低频一致性测试板2与PCB板连接口7相连接，屏蔽箱体1的顶部设置有天线，天线5与屏蔽箱体1内的低频一致性测试板1相连接，天线5与屏蔽箱体1顶部的连接部位设置有屏蔽端4，屏蔽端为复合层结构，包括一个橡胶层，橡胶层的底部与屏蔽箱体的顶端粘接，还包括一个金属层，金属设置在橡胶层的上边，并与橡胶层粘接。作为本实施例的改进，可将PCB板连接口7通过连接座安装在屏蔽箱体上，用以增强PCB板连接口7的强度，并能够在一定程度上防止漏磁或漏电。低频一致性测试板即所谓的TB板，可在TB板中预先设置好与待测射频读卡器的低频信号的通信距离门限相对应的低频信号强度，在预定的通信距离门限处，射频读卡器所发射的低频信号强度等于标准强度，测试时要看低频信号强度与标准强度是否存在偏差，即，用测试所得的低频信号强度与标准强度的差值的绝对值除以标准强度，所得之商再乘以100％即可得到偏差，通过该偏差值可以判断该射频读卡器是否为合格产品。低频一致性测试板7安装在金属材质的屏蔽箱体，屏蔽箱体1能够屏蔽掉大部分的电磁干扰，天线5虽然穿出屏蔽箱体1，理论上存在漏磁漏电的可能，但由于安装了屏蔽端4，且将屏蔽端4设置为复合层结构，故能够防止漏磁漏的现象发生。整个测试过程都是在金属材质的屏蔽盒壳体内进行，连接导线也可以通过软排线连接，RFID卡与低频一致性测试板7之间形成一个通路，天线与低频一致性测试板7之间也形成通路，通过上位机6可以对低频一致性测试板7进行操作，通过人机交互界面能够方便快捷地查看测试结果，并根据不同的测试结果做出相应的处理，上位机与低频一致性测试板7的连接方式对于本领域技术人员而言是很容易实现的，可以通过各种公知的通信接口进行连接，故在此不赘述。使用本实用新型的射频测试装置，无需开盖即可在密闭的测试环境中进行整个射频测试操作，相比现有技术而言大大提高了测试效果，由于增加了卡座3的数量，在测试过程中无需反复开合屏蔽箱体即可完成整个测试过程，不仅缩短了测试时间，而且还提高了射频测试系统的整体屏蔽效果，提高了产品测试的准确率。

当然，本实用新型还可以有其他多种实施例，在不背离本实用新型精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可以根据本实用新型做出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。