[发明专利]光学装置、光学测试台及光学测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学装置、光学测试台及光学测试方法。

背景技术

为了测试光学或光电监测系统，以下称为待测试的单元，已知使用包括光学装置的光学测试台，光学装置用于提供可变聚散度的测试光波，即可提供被会聚、发散或准直的光波。

已知的光学装置包括提供被称为源光波的光波的光源、接收源光波并遮蔽一部分以提供称为测试图光波的光波的屏幕、以及聚光光学透镜(或等同的)，用于接收测试图光波和在光源和屏幕侧呈现焦点。

更具体地，可用凹面镜代替透镜。

在已知的光学装置中，光源和屏幕相对于透镜一起移动，以将屏幕放置在透镜或凹面镜的焦点之后、之上或在之前，以使光学装置分别提供发散、准直或会聚的测试光波。

测试光波用于由待测试的单元接收，待测试的单元因此观察由屏幕形成的测试图，比如该测试图沿测试光波的会聚而所处的距离包括在小于五公里的值和无限远(大于五公里的距离)之间。

待测试的单元用于聚焦在测试图上和将该测试图的图像供应给信息处理装置。信息处理装置然后可对图像实施不同的测试，更具体地，估计由待测试的单元实施的聚焦品质。

前面已知的光学装置呈现的问题为，较难将测试图准确地重新放置在透镜或凹面镜的焦点上。该重新放置需要对测试图的位置进行多种操作和检验。另外，能够将测试图相对透镜或凹面镜放置的机械系统是复杂和昂贵的。

然而，这种重新放置是必要的。例如，为了确定待测试的单元的机械参考轴，已知要实施通过使用反射准直测试波的镜的自动准直。然而，如果屏幕相对透镜 或凹面镜的焦点不准确，视频或光学可视系统不再能够监测到反射波。

而且，希望安置有一种光学系统，用于容易地提供可变聚散度的测试图的光波。

发明内容

为达此目的，提供一种光学系统包括：

-称为准直光波的平面光波的生成装置，和

-准直光波偏置装置，用于提供称为测试光波的光波，所述偏置装置呈现有可调节的焦距。

以可选的方式，偏置装置的焦距是可调节的，更具体地可调至无穷大。

以可选的方式，焦距在从无穷大延伸到预定值的区间中是可调节的。

以可选的方式，预定值是负的。

以可选的方式，预定值是正的。

以可选的方式，所述偏置装置包括：

-第一光学透镜，用于接收准直光波且将其偏置，以提供称为中间光波的光波；

-第二光学透镜，用于接收所述中间光波且将其偏置，以提供测试光波；

-支撑所述两个光学透镜的间隔装置，用于使得能够调节两个光学透镜之间的间隔，该间隔取决于偏置装置的焦距；和其中所述两个光学透镜呈现有相对立的焦距。

以可选的方式，所述第一光学透镜是发散的和所述第二光学透镜是会聚的。

以可选的方式，所述两个光学透镜的焦距的绝对值之比不等于1。

以可选的方式，所述两个光学透镜的材料相同。

以可选的方式，所述第一透镜焦距的绝对值与所述第二透镜焦距的绝对值之比包含于0.992和0.995之间。

以可选的方式，准直光波生成装置包括：-发射源光波的光源；-部分透明且呈现一定图案的屏幕，所述屏幕被安置穿过源光波，以遮掩一部分源光波和使得另一部分源光波通过；-准直仪，被配置用于接收并准直所述测试图光波，用于提供准直光波。

另外，提供光学测试台，包括：-根据本发明的光学系统；-称为待测试的单元的光学或光电监测系统，用于接收测试光波和提供来自于测试光波的图像；-信息处理装置，用于对图像实施一种或多种处理。

-另外，提供称为待测试的单元的光学或光电监测系统的测试方法，包括：-调节偏置装置的焦距，-提供被称为准直光波的平面光波给偏置装置，-由偏置装置对准直光波进行偏置，以提供被称为测试光波的光波；-提供测试光波给待测试的单元，通过每次将偏置装置的焦距调节到不同值，这些步骤被实施多次。

以可选的方式，对准直光波进行偏置包括：-提供准直光波给第一光学透镜以将其偏置，用于提供称为中间光波的光波；-提供中间光波给第二光学透镜以将其偏置，用于提供测试光波；和其中调节所述偏置装置的焦距包括：-调节在所述两个光学透镜之间的间隔，该间隔取决于偏置装置的焦距。

附图说明

在参考附图的详细描述中将呈现本发明的实施方式，其中：

-图1为根据本发明的光学测试台的简化视图，

-图2为图1的光学测试台的偏置装置的剖面图，