[发明专利]免疫测定方法及免疫测定装置有效

专利信息
申请号: 201410037190.4 申请日: 2014-01-26
公开(公告)号: CN103983768B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 越村直人 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543;G01N21/47
代理公司: 北京市安伦律师事务所11339 代理人: 刘良勇,杨永波
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 免疫测定 方法 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种利用粒子凝集的免疫测定方法及免疫测定装置。

背景技术

人们已经知道有一种利用计数免疫分析(Counting Immunoassay,CIA)的免疫测定方法。在此免疫测定方法中,混合将测定对象物质的相应抗原或抗体致敏的载体粒子与样本,制备测定用试样,测定所制备的测定用试样来获取载体粒子的凝集程度。在此测定方法中,如果样本中含有乳糜粒子等测定对象以外的物质,测定结果就会产生误差。已知的用于减少这种误差的技术比如有美国专利(U.S. Patent)No. 5527714号及美国专利申请公报(U.S. Patent Application Publication)No. 2005/148099中记述的技术。

根据美国专利(U.S. Patent)No. 5527714中所记述的技术,在以粒径为横坐标、以粒子数目为纵坐标的粒度分布图中,根据没有出现载体粒子的区域的数据推断测定对象以外的物质的粒度分布。然后根据从全部粒度分布减去所推断的测定对象以外的物质的粒度分布所获得的粒度分布获取凝集度。

根据美国专利申请公报(U.S. Patent Application Publication)No. 2005/148099中记述的技术,在以前向散射光强度为横坐标、以侧向散射光强度或高频电阻为纵坐标的散点图中,设定载体粒子出现的区域和测定对象以外的物质出现的区域,根据出现在载体粒子的出现区域的粒子来获取凝集度。

上述两项技术虽然都能够减少乳糜粒子等测定对象以外的物质所造成的误差,但人们要求进一步减少误差。

发明内容

本发明的范围只由后附权利要求所规定,在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。

因此,本发明提供:

(1)一种免疫测定方法,其包括:

测定混合样本、以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子所得到的测定用试样,检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息;

根据所述结合数的相关信息,将测定用试样所含有的各粒子分别按照所述结合数分类;及

根据对分类后的至少一个组类实施第一除去处理和第二除去处理中的至少一种处理所获得的载体粒子的数据获取载体粒子的凝集度的相关信息,其中所述第一除去处理是指从处理对象中除去与载体粒子不同的测定对象以外的物质的数据,所述第二除去处理是指通过不同于所述第一除去处理的处理从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。

在本形态的免疫测定方法中,针对分类后的各个组类,分别进行适当的测定对象以外的物质的数据的除去处理,由此能够减轻测定对象以外的物质所造成的误差的影响。

(2)根据(1)所述的免疫测定方法,其特征在于:

在检测步骤中,

用光照射所述测定用试样,获取所述测定用试样中所含有的各粒子的光学信息;及

根据获取的光学信息,检测出前向散射光信息作为所述结合数的相关信息。

由此,能够轻松、正确地获得结合数的相关信息。

(3)根据(2)所述的免疫测定方法,其特征在于:

在检测步骤中还根据获取的光学信息检测出侧向散射光信息,

在获取所述信息的步骤中,在所述第一除去处理中根据检测出的侧向散射光信息从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。

由此,在第一和第二除去处理中能够轻松、准确地从处理对象中除去测定对象以外的物质。

(4)根据(2)或(3)所述的免疫测定方法,其特征在于:

在获取所述信息的步骤中,在所述第二除去处理中根据检测出的前向散射光信息从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。

由此就能够轻松、准确地在第一和第二除去处理中从处理对象中除去测定对象以外的物质。

(5)根据(1)所述的免疫测定方法,其特征在于:

在获取所述信息的步骤中,针对分类后的各个组类,分别选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适于除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。

由此就能针对各个组类切实地运用恰当的除去处理。

(6)根据(5)所述的免疫测定方法,其特征在于:

在获取所述信息的步骤中,针对分类后的组类,根据所述结合数的大小选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适于除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。

由此就能针对分类后的各个组类切实地运用恰当的除去处理。

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