[发明专利]一种薄膜生产中张力控制装置及其控制方法在审
申请号: | 201410186489.6 | 申请日: | 2014-05-04 |
公开(公告)号: | CN103950771A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | 朱礼尧;公晓丽;吴涛;陈文浩 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | B65H23/195 | 分类号: | B65H23/195;B65H26/04;B65H26/08 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜 生产 张力 控制 装置 及其 方法 | ||
1. 一种薄膜生产中张力控制方法,其特征在于:采用带温度补偿的超声波检测模块实时检测薄膜料卷半径尺寸的变化量,张力控制器根据料卷半径尺寸的变化产生控制信号,通过控制可控恒流源输出的电流,以控制磁粉制动器相应改变输出的扭矩,以确保薄膜保持恒定的张力。
2.一种张力控制装置,主要包括张力控制器、磁粉制动器、可控恒流源和超声波检测模块,其特征在于:超声波检测模块实时检测薄膜料卷直径的变化量,张力控制器接收超声波检测模块所检测的料卷尺寸的变化量,产生控制信号,可控恒流源接收所述控制信号,并驱动磁粉制动器改变输出扭矩,确保薄膜保持恒定的张力。
3.如权利要求2所述张力控制装置,其特征在于:所述超声波检测模块由信号处理模块和超声波传感器组成,信号处理模块有温度传感器,依据所在环境温度选择超声波速度参数,安装时,超声波传感器对准料卷轴中心线;精确测量超声波传感器距离料卷中心线的距离X,超声波检测模块检测的距离为Y,则料卷的半径R=X-Y。
4.如权利要求2所述张力控制装置,其特征在于:所述张力控制器通过串口与超声波检测模块连接,实时获取料卷半径尺寸数据,并采用PID跟踪算法,通过其DA端口输出控制信号给可控恒流源,驱动磁粉制动器相应改变输出扭矩,保证薄膜保持恒定的张力。
5.如权利要求2所述张力控制装置,其特征在于:可控恒流源的输入端为控制信号,输出端是与输入控制信号成线性关系的恒定电流;可控恒流源电流输出端与磁粉制动器相连接。
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