[发明专利]非侵入式传感器系统有效
申请号: | 201410255909.1 | 申请日: | 2014-06-10 |
公开(公告)号: | CN104515544B | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | M·S·舒马赫 | 申请(专利权)人: | 罗斯蒙特公司 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 曹雯 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器 传感器阵列 非侵入式 测量 传感器系统 输出过程 输入过程 侵入式 侵入式传感器 分析传感器 过程流体 过程元素 经验模型 逻辑单元 直接测量 位置处 表现 | ||
1.一种用于在过程中分析过程设备的操作的测量系统,包括:
包括设置在所述过程中的至少一个非侵入式传感器的多个传感器,其中,所述多个传感器中的每个传感器测量所述过程中的不同物理过程现象以产生用于指示物理过程现象的传感器测量值,并且其中,所述至少一个非侵入式传感器关于所述过程非侵入式地测量相应的物理过程现象;以及
可通信地耦接到所述多个传感器中的每个传感器以接收所述传感器测量值的逻辑模块,所述逻辑模块包括逻辑引擎以及用于将所述不同物理过程现象中的每个物理过程现象的值的测量值与另一个物理过程现象相关的模型,其中,所述逻辑模块在计算机处理器设备上操作以使用所述模型和所述传感器测量值来确定所述另一个物理过程现象的值。
2.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述多个传感器中的每个传感器设置在过程设备集合中的不同过程设备中,并且其中,所述逻辑模块设置在与所述过程设备集合中的每个过程设备分离的另一个过程设备中。
3.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述多个传感器中的每个传感器设置在过程设备集合中的不同过程设备中,并且,所述逻辑模块设置在所述过程设备集合中的一个过程设备中,其中,所述逻辑模块经由所述过程设备集合中的所述一个过程设备中的内部通信连接可通信地耦接到一个所述传感器并且经由外部通信连接可通信地耦接到所述多个传感器中的其他传感器中的一个或更多个传感器。
4.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述逻辑模块经由过程控制协议通信网络耦接到所述多个传感器中的一个或更多个传感器。
5.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述逻辑模块经由近场通信链路耦接到所述多个传感器中的一个或更多个传感器。
6.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述逻辑模块经由射频标识通信链路耦接到所述多个传感器中的一个或更多个传感器。
7.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述逻辑模块经由射频通信链路向一个或更多个所述传感器供电。
8.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述逻辑模块包括另一个逻辑引擎以检测所述多个传感器中的一个或更多个传感器的潜在故障。
9.如权利要求8所述的测量系统,其中,所述另一个逻辑引擎使用所述模型基于来自所述多个传感器的所述传感器测量值的比较来执行故障检测。
10.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述模型是主成分分析模型。
11.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述模型是部分最小二乘模型。
12.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述模型是经验模型。
13.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述另一个物理过程现象是与由所述多个传感器中的任意一个传感器测量的任意物理过程现象不同类型的物理过程现象。
14.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述多个传感器中的每个传感器测量不同类型的物理过程现象。
15.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述另一个物理过程现象与由所述多个传感器中的至少一个传感器测量的物理过程现象的类型相同,但是与由所述多个传感器中的所述至少一个传感器测量的物理过程现象不同位置处的该类型物理过程现象相关。
16.如权利要求1所述的测量系统,其中,所述另一个物理过程现象与由所述多个传感器中的至少一个传感器测量的物理过程现象的类型相同,并且与由所述多个传感器中的所述至少一个传感器测量的物理过程现象相同位置处的该类型物理过程现象相关。
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