[发明专利]一种提高电化学分析仪器测量精度的方法有效

专利信息
申请号: 201410802601.4 申请日: 2014-12-22
公开(公告)号: CN104483361A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 刘佳;唐慧强;吴荣坤;朱培德 申请(专利权)人: 南京信息工程大学
主分类号: G01N27/26 分类号: G01N27/26
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 顾进
地址: 210044 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 电化学 分析仪器 测量 精度 方法
【权利要求书】:

1.一种提高电化学分析仪器测量精度的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一、将由软件模拟得到的数据R0[X0,X1…Xn]作为参考样本,以测量时间为X轴,测量数据为Y轴,将样本拟合成平面曲线S1

步骤二、定义S1中曲率为Kb(Kb0≤Kb≤Kb1)的曲线段为基线段,曲率为Kr(Kr0≤Kr≤Kr1)的曲线段为反应段;

步骤三、将使用电化学分析仪器测得的数据R[X0,X1…Xn]拟合为平面曲线S2

步骤四、在曲线S2上选取n个测量点,计算其曲率K[K0,K1…Kn],将K分别和Kb,Kr对比,若K∈Kb,那么该测量点属于基线段,若K∈Kr,则该测量点属于反应段;则曲线S2分成m段R’0…R’m,m<n;

步骤五、对于属于基线段的S2的曲线段R’[X0,X1…Xm],使用加权平均滑动法进行平滑处理,所述加权平均滑动的表达式为:

λ(xi)=Σj=i-(l-1)/2i+(l-1)/2ω(j)xjΣj=i-(l-1)/2i+(l-1)/2ω(j)i=0,1,2...l]]>

其中l为滑动窗口的宽度,l为奇数,ω为加权平均函数;

对于属于反应段的S2的曲线段R”[X0,X1…Xm],使用卷积平滑法进行平滑处理,所述卷积平滑法的表达式为:

λ(xi)=q*δ=limlΣj=0lq(j)*δ(i-j)i=0,1,2...l]]>

其中,l表示滑动窗口宽度,l趋向于∞,q为单位样值函数,δ为延迟函数;

步骤六、重复步骤四到步骤五,对R’0…R’m逐一进行判断和平滑处理,从而消除测量数据中的噪声和异常值。

2.根据权利要求1所述的提高电化学分析仪器测量精度的方法,其特征在于,所述电化学分析仪器为硫氮元素分析仪或微库仑分析仪。

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