[发明专利]一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构

权利要求书

1.一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构，空间坐标为X轴、Y轴和Z轴，所述X轴、Y轴和Z轴相互垂直，其特征在于：包括缩束准直模块(1)、小型静态干涉具(2)和高速光电探测器(3)，所述缩束准直模块(1)、小型静态干涉具(2)和高速光电探测器(3)沿Z轴依次放置。

2.根据权利要求1所述的一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构，其特征在于：所述缩束准直模块(1)包括第一透镜(4)、光阑(5)和第二透镜(6)，所述第一透镜(4)、光阑(5)和第二透镜(6)沿Z轴依次放置。

3.根据权利要求1所述的一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构，其特征在于：所述小型静态干涉具(2)包括起偏器(7)、小型电光调制器(8)和检偏器(9)，所述起偏器(7)、小型电光调制器(8)和检偏器(9)沿Z轴依次放置。

4.根据权利要求3所述的一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构，其特征在于：所述起偏器(7)的偏振方向平行于X轴，小型电光调制器(8)的电场方向平行于X轴，检偏器(9)的偏振方向平行于Y轴。

5.根据权利要求4所述的一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构，其特征在于：所述小型电光调制器(8)采用横向电光效应。

6.根据权利要求4所述的一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构，其特征在于：所述小型电光调制器(8)上下两面镀电极，驱动电压频率为50kHz-200kHz。

7.根据权利要求4所述的一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构，其特征在于：所述小型电光调制器(8)的电光晶体沿X轴方向厚度为20μm-50μm，沿Y轴方向宽度为10mm-20mm，沿Z轴方向长度为30mm-50mm。