[发明专利]用于制造光学镜片的方法和设备有效
申请号: | 201480030244.2 | 申请日: | 2014-06-25 |
公开(公告)号: | CN105263672B | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | V·戈多 | 申请(专利权)人: | 依视路国际公司 |
主分类号: | B24B13/005 | 分类号: | B24B13/005 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 陈华成 |
地址: | 法国沙*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 制造 光学镜片 方法 设备 | ||
1.一种将非成品光学镜片构件封阻在封阻器上以便从该非成品光学镜片构件制造光学镜片的方法,该非成品光学镜片构件设置有具有第一参考系的成品表面,并且该封阻器具有第二参考系,该方法包括:
将该非成品光学镜片放置在该封阻器上;
测量放置后的非成品光学镜片构件的该成品表面的该第一参考系相对于该封阻器的该第二参考系的定位的相对定位;
将测量的相对定位与预定的相对定位进行比较以便确定相对定位偏移;
移动该封阻器和该镜片构件中的至少一项以改变该第一参考系相对于该第二参考系的相对定位以便补偿该相对定位偏移;并且
在该封阻器上以经改变的相对定位封阻该非成品光学镜片。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,该封阻器配备有一个可移动部分,该可移动部分可操作用于移动该第二参考系,并且改变该第一参考系相对于该第二参考系的相对定位包括移动该可移动部分来移动该第二参考系。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中:
该光学镜片构件的该成品表面配备有与该第一参考系相关联的一个或多个可检测的第一识别特征,并且该封阻器配备有与该第二参考系相关联的一个或多个可检测的第二识别特征;并且
所述确定该相对定位的步骤包括检测该一个或多个可检测的第一识别特征和该一个或多个可检测的第二识别特征的位置。
4.根据以上任一项权利要求所述的方法,其中这些参考系之一根据以下定位参数中的至少一个定位参数相对于另一参考系移动:该参考系的中心点的偏心量Tx、该参考系的中心点的偏心量Ty;该参考系关于该镜片构件的竖直z轴的取向Rz、关于该镜片构件的水平x轴的取向Rx、以及关于该镜片构件的水平y轴的取向Ry。
5.根据权利要求4所述的方法,其中这些参考系之一相对于另一个参考系沿竖直平移来移动,这样使得这两个参考系之间的相对定位参数ΔTz与一个预定的相对定位参数ΔTzpredet相对应。
6.根据权利要求4或5所述的方法,其中测量该相对定位包括借助于根据一个相机参考系定位的一个第一相机来测量这些定位参数Tx、Ty和Rz。
7.根据当从属于权利要求5时的权利要求6所述的方法,其中测量该相对定位包括通过关于所述相机参考系定位的至少一个第二相机来测量这些定位参数Rx、Ry和/或Tz。
8.根据权利要求6或7所述的方法,包括关于所提供的相机参考特征将该第一相机和/或第二相机定位在该封阻器上。
9.根据权利要求5至8中任一项所述的方法,包括一个机加工工具定位步骤,在该步骤中,该机加工工具朝向该非成品表面的接近速度是基于这两个参考系的该相对定位参数Tz来确定的。
10.根据以上任一项权利要求所述的方法,其中该预定的相对定位是基于包括增加度数据、棱镜数据以及镜片厚度数据中的至少一项的处方数据来确定的。
11.一种用于将非成品光学镜片构件封阻以便从该非成品光学镜片构件制造光学镜片的设备,该非成品光学镜片构件设置有具有第一参考系的成品表面,该设备包括:
封阻器,该封阻器具有第二参考系,在使用中将该非成品光学镜片构件放置在该封阻器上;
测量装置,该测量装置用于测量放置后的非成品光学镜片构件的该成品表面的该第一参考系相对于该封阻器的该第二参考系的定位的相对定位;
计算模块,该计算模块用于将测量的相对定位与预定的相对定位进行比较以确定相对定位偏移;以及
定位装置,该定位装置用于移动该封阻器和该镜片构件中的至少一项以改变该第一参考系相对于该第二参考系的相对定位以便补偿该相对定位偏移;其中该封阻器可操作用于以经改变的相对定位封阻该非成品光学镜片构件。
12.根据权利要求11所述的设备,其中该封阻器包括一个可移动部分,该可移动部分通过该定位装置是可移动的,以改变该相对定位。
13.根据权利要求12所述的设备,其中该可移动部分是根据定位参数Tx、Ty、Rz、Rx以及Ry中的至少一项而可移动的。
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