[发明专利]一种子孔径SAR大斜视改进Omega‑K成像方法有效
申请号: | 201510051776.0 | 申请日: | 2015-01-30 |
公开(公告)号: | CN104597447B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 梁毅;怀园园;邢孟道;别博文 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙)61218 | 代理人: | 惠文轩 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 种子 孔径 sar 斜视 改进 omega 成像 方法 | ||
1.一种子孔径SAR大斜视改进Omega-K成像方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,利用机载合成孔径雷达发射线性调频信号,利用机载合成孔径雷达接收对应的回波信号;对回波信号进行解调,得到解调后的基带回波信号其中,为机载合成孔径雷达距离向位置变量,X为机载合成孔径雷达方位向位置变量,R0为机载合成孔径雷达波束中心扫过场景中心点时的斜距;对基带回波信号进行距离向傅里叶变换,得出距离波数域方位空间位置域信号S1(Kr,X),Kr为机载合成孔径雷达距离波数变量;
步骤2,将距离波数域方位空间位置域信号S1(Kr,X)进行距离向匹配滤波处理,得出距离匹配滤波后信号S2(Kr,X);
步骤3,将距离匹配滤波后信号S2(Kr,X)乘以旋转校正函数HLRWC(Kr,X),得出旋转校正后信号S3(Kr,X),其中,旋转校正函数HLRWC(Kr,X)=exp[-jKrXsinθ0],θ0为机载合成孔径雷达的波束中心斜视角;
步骤4,对旋转校正后信号S3(Kr,X)进行方位向傅里叶变换,得到二维波数域信号S4(Kr,Kx),Kx为机载合成孔径雷达方位波数变量;
步骤5,将R0=R0'-Xnsinθ0代入二维波数域信号S4(Kr,Kx)的表达式中,得出第一次形式变换后的二维波数域信号S5(Kr,Kx);令
将Kx'的表达式代入第一次形式变换后的二维波数域信号S5(Kr,Kx)的表达式中,得出第二次形式变换后的二维波数域信号S6(Kr,Kx');
步骤6,对二维波数域信号S6(Kr,Kx')依次进行相位补偿、Stolt插值处理、距离向逆傅里叶变换、去斜处理、方位向逆傅里叶变换、方位波数域聚焦成像,得出最终SAR聚焦成像结果。
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