[发明专利]紫外线照射装置以及具有该紫外线照射装置的分析装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种在碱性氛围中使用的紫外线照射装置以及具有该紫外线照射装置的分析装置。

背景技术

在总氮总磷测定仪等分析装置中，例如可以通过对水样照射紫外线使水样中的成分氧化，通过测定部对被氧化了的成分的浓度进行测定(例如，参照以下的专利文献1)。紫外线从低压水银灯等紫外线照射装置被照射至水样。紫外线照射装置中设置有由例如石英玻璃形成的发光管，在发光管的内部产生的紫外线透过该发光管被照射至外部。

在此种分析装置之中，具有从外部向蓄积了水样的反应槽照射紫外线那样的结构的分析装置、和将发光管浸渍于反应槽内的水样中以直接照射紫外线那样的结构的分析装置。采用将发光管浸渍于分析装置反应槽内的水样中的结构的话，可以提高水样中的成分的氧化效率，但由于发光管与水样直接接触，所以可能会产生发光管劣化等问题。

例如，在氢氧化钠等试药被混入水样中的情况下，由于发光管被浸渍于碱性的水样中，因此存在由于以下反应式所示的化学反应，而形成发光管的石英玻璃洗脱这样的问题。

SiO₂+2NaOH→Na₂SiO₃+H₂0

因此，有时也存在实施如下对策的情况，即通过将树脂制的套管包覆在发光管的外表面，保护石英玻璃以避免其接触到碱性的水样。在该情况下，例如可以加热套管使其软化，在从发光管的顶端侧压入之后使其固化，由此将套管包覆在发光管的外表面。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2002-107352号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，在以上述那样的形态将树脂制的套管包覆在发光管的外表面的情况下，可能会在套管和发光管的外表面之间产生间隙。在水样进入这样的间隙的情况下，该水样会混入到下一次分析时的水样中，成为测定误差的原因，因此不是很理想。又，混入到套管和发光管的外表面的间隙的水样到达发光管的根部，可能会使发光管内的电气元件产生不良情况。

进一步地，从发光管的内部产生的紫外线有时会使树脂制的套管劣化，产生龟裂。在该情况下，水样进入所产生的龟裂内，该水样混入到下一次分析时的水样中，因此不仅成为测定误差的原因，而且还存在与龟裂同时产生的异物对测定造成坏影响的可能性。

不仅是将发光管浸渍在反应槽内的水样中这样的构成需要保护发光管，在例如含有氨的大气中使用紫外线照射装置的情况下，也需要避免发光管受到碱性氛围影响。在这样的情况下，如果采用使用树脂制的套管保护发光管这样的构成的话，存在从发光管的内部产生的紫外线导致套管劣化，对测定造成坏影响的可能性。

本发明正是鉴于上述情况而做出的，其目的在于提供一种不会对测定造成坏影响、且能够避免发光管受到碱性氛围影响的紫外线照射装置以及具有该紫外线照射装置的分析装置。

用于解决问题的手段

本发明所涉及的紫外线照射装置，其是在碱性氛围中被使用的紫外线照射装置，其包括：发光管，所述发光管由石英材料形成的，从内部发出紫外光；以及第1保护膜，所述第1保护膜被成膜于所述发光管的外表面，避免所述发光管受到碱性氛围影响。

根据这样的结构，可以通过成膜于该发光管的外表面的第1保护膜避免由石英材料形成的发光管受到碱性氛围影响。即，可以通过第1保护膜阻止对于碱性氛围的石英材料的化学反应，防止石英材料洗脱。

尤其是，由于使第1保护膜成膜于发光管的外表面，所以可以防止在发光管的外表面和第1保护膜之间产生间隙。因此，不会存在进入到发光管的外表面和第1保护膜之间的间隙的水样混入下一次分析时的水样的情况，能够防止这样的水样的混入对测定造成坏影响。又，如果是以能够透过紫外线的材料来形成第1保护膜的构成，则即使在发光管的外表面的宽范围形成第1保护膜，也不会对测定造成坏影响。因此，可以不对测定造成坏影响地避免发光管受到碱性氛围影响。

所述第1保护膜可以由包含类金刚石碳的材料形成。

根据这样的结构，可以采用耐紫外线性以及耐碱性高的类金刚石碳在发光管的外表面形成第1保护膜。由此，可以有效地防止第1保护膜劣化，因此可以防止由于进入到第1保护膜的龟裂的水样混入下一次分析时的水样而对测定造成坏影响。

所述第1保护膜可以由包含无机金属或者无机金属化合物的材料形成。