[发明专利]椭球面的无像差绝对检验方法有效
申请号: | 201510149585.8 | 申请日: | 2015-03-31 |
公开(公告)号: | CN104697465B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 陈善勇;戴一帆;李圣怡;彭小强;石峰;王贵林 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙)43008 | 代理人: | 赵洪,钟声 |
地址: | 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 椭球 无像差 绝对 检验 方法 | ||
1.一种椭球面的无像差绝对检验方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:测量:利用球面波干涉仪(2)和球面反射镜(3)对椭球面(1)进行无像差零位检验和猫眼位置检验,具体按以下分步骤执行;
S11:所述球面波干涉仪(2)向椭球面(1)发出球面测试波,且球面测试波的球心(4)与椭球面(1)的远焦点f1重合,所述球面反射镜(3)置于球面波干涉仪(2)与椭球面(1)之间,且球面反射镜(3)朝向椭球面(1),球面反射镜(3)的曲率中心(5)与椭球面(1)的近焦点f2重合,进行无像差零位检验并测得第一组数据,并存盘为W1,W1(x,y)=TS(x,y)+2T(x,y)+RS(x,y);
S12:将所述椭球面(1)绕光轴回转180°,其余检验条件保持不变,进行无像差零位检验并测得第二组数据,并存盘为W2,W2(x,y)=TS(x,y)+2T(-x,-y)+RS(x,y);
S13:将所述椭球面(1)绕光轴回转-180°回到原位置,所述球面反射镜(3)向其曲率中心(5)移动,使得球面反射镜(3)的顶点与椭球面(1)的焦点f2重合,进行猫眼位置检验并测得第三组数据,并存盘为W3,W3(x,y)=1/2L(x,y)-1/2L(-x,-y)-1/2n[TS(x,y)-TS(-x,-y)]-1/2[TS(x,y)+TS(-x,-y)]+[T(x,y)+T(-x,-y)];
S14:翻转所述球面反射镜(3)将球面反射镜(3)朝向球面波干涉仪(2),并移动球面反射镜(3),使得其顶点与球面测试波的球心(4)重合,进行猫眼位置检验并测得第四组数据,并存盘为W4,W4(x,y)=1/2L(x,y)-1/2L(-x,-y)-1/2n[TS(x,y)-TS(-x,-y)]-1/2[TS(x,y)+TS(-x,-y)];
S2:计算所述椭球面(1)的面形误差绝对检验结果T:T=(W1-W2+2W3-2W4)/4;
其中,TS(x,y)是球面波干涉仪(2)的球面镜头的参考面误差,T(x,y)是被测椭球面(1)的面形误差,RS(x,y)是球面反射镜(3)的面形误差,L(x,y)是球面干涉仪(2)的球面镜头除参考面误差外引入的透过波前误差。
2.根据权利要求1所述的椭球面的无像差绝对检验方法,其特征在于,所述步骤S1中,椭球面(1)满足无像差零位检验条件,椭球面(1)、球面波干涉仪(2)和球面反射镜(3)光轴重合。
3.根据权利要求1所述的椭球面的无像差绝对检验方法,其特征在于,所述步骤S13和步骤S14中,球面反射镜(3)处于猫眼检验位置,入射光线被球面反射镜(3)反射后,沿着关于中心对称的位置返回,干涉图样呈现猫眼图案。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的椭球面的无像差绝对检验方法,其特征在于,所述椭球面(1)的夹具设有以下调节自由度:沿光轴(Z)方向的移动自由度、在垂直光轴(Z)的平面内的二维平移自由度、以垂直光轴(Z)的水平轴(X)为轴心的俯仰自由度,以正交于光轴(Z)和水平轴(X)的正交轴(Y)为轴心的偏摆自由度;所述球面反射镜(3)的夹具设有以下调节自由度:沿光轴(Z)方向的移动自由度、在垂直光轴的平面内的二维平移自由度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科学技术大学,未经中国人民解放军国防科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510149585.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。