[发明专利]数控加工中心检测方法及装置

权利要求书

1.一种数控加工中心检测方法，其特征在于，包括：

接收用户输入的检测指令，并根据所述检测指令控制所述主轴移动到预定位置，以使所述主轴自动换上设置在所述预定位置的雷尼绍探头；

驱动所述雷尼绍探头对与固定在所述数控加工中心上的标准块进行反复多次的碰触测量，获得所述数控加工中心X轴、Y轴、Z轴、A轴和C轴的偏差值；

根据预先存储的偏差阈值，判断所述X轴、Y轴、Z轴、A轴和C轴的偏差值是否满足要求，并将判断结果显示给用户。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述偏差阈值包括：X轴偏差阈值、Y轴偏差阈值、Z轴偏差阈值、A轴偏差阈值和C轴偏差阈值；

相应的，所述根据预先存储的偏差阈值，判断所述X轴、Y轴、Z轴、A轴和C轴的偏差值是否满足要求，具体包括：

将所述X轴、Y轴、Z轴、A轴和C轴的偏差值分别与所述X轴偏差阈值、Y轴偏差阈值、Z轴偏差阈值、A轴偏差阈值和C轴偏差阈值进行比较；

对于每一个轴，若所述轴的偏差值小于所述轴的偏差阈值，则判断所述轴满足要求；

若所述轴的偏差值不小于所述轴的偏差阈值，则判断所述轴不满足要求。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述驱动所述雷尼绍探头对与固定在所述数控加工中心上的标准块进行反复多次的碰触测量，获得所述数控加工中心在X轴、Y轴、Z轴、A轴和C轴的偏差值，包括：

驱动所述探头沿X轴负方向移动，当碰触到所述标准块时，停止驱动所述探头移动，并记录所述探头所在的第一位置信息；

驱动所述探头沿X轴正方向移动第一预设阈值；

驱动所述探头沿X轴负方向移动，当碰触到所述标准块时，停止驱动所述探头移动，并记录所述探头所在的第二位置信息；

将所述第一位置信息和第二位置信息相减，得到所述X轴的偏差值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述驱动所述雷尼绍探头对与固定在所述数控加工中心上的标准块进行反复多次的碰触测量，获得所述数控加工中心在X轴、Y轴、Z轴、A轴和C轴的偏差值，还包括：

驱动所述探头沿Y轴负方向移动，当碰触到所述标准块时，停止驱动所述探头移动，并记录所述探头所在的第三位置信息；

驱动所述探头沿Y轴正方向移动第二预设阈值；

驱动所述探头沿Y轴负方向移动，当碰触到所述标准块时，停止驱动所述探头移动，并记录所述探头所在的第四位置信息；

将所述第三位置信息和第四位置信息相减，得到所述Y轴的偏差值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述驱动所述雷尼绍探头对与固定在所述数控加工中心上的标准块进行反复多次的碰触测量，获得所述数控加工中心在X轴、Y轴、Z轴、A轴和C轴的偏差值，还包括：

驱动所述探头沿Z轴负方向移动，当碰触到所述标准块时，停止驱动所述探头移动，并记录所述探头所在的第五位置信息；

驱动所述探头沿Z轴正方向移动第三预设阈值；

驱动所述探头沿Z轴负方向移动，当碰触到所述标准块时，停止驱动所述探头移动，并记录所述探头所在的第六位置信息；

将所述第五位置信息和第六位置信息相减，得到所述Z轴的偏差值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述驱动所述雷尼绍探头对与固定在所述数控加工中心上的标准块进行反复多次的碰触测量，获得所述数控加工中心在X轴、Y轴、Z轴、A轴和C轴的偏差值，还包括：

将所述A轴的角度设置为0度、C轴的角度设置为0度，并驱动所述探头沿Y轴负方向移动，当碰触到所述标准块时，停止驱动所述探头移动，并记录所述探头所在的第七位置信息；

驱动所述探头沿Y轴正方向移动第四预设阈值；

将所述A轴的角度设置为0度、C轴的角度设置为180度，并驱动所述探头沿Y轴负方向移动，当碰触到所述标准块时，停止驱动所述探头移动，并记录所述探头所在的第八位置信息；

将所述第七位置信息和第八位置信息相减，得到所述A轴的偏差值。