[发明专利]一种基于X射线检测的IC料盘检测装置有效
申请号: | 201510741680.7 | 申请日: | 2015-11-04 |
公开(公告)号: | CN105301023B | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 刘骏;许威;朱海涛 | 申请(专利权)人: | 无锡日联科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/18 | 分类号: | G01N23/18 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 张海英;徐鹏飞 |
地址: | 214145 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 射线 检测 ic 装置 | ||
本发明公开了一种基于X射线检测的IC料盘检测装置,其包括底座、移动桌面、放料盘、收料盘和送料组件,其中,所述移动桌面可移动地安装于所述底座之上,且所述移动桌面连接有桌面驱动装置,所述放料盘和收料盘对应设置于所述移动桌面的两侧,且所述放料盘和收料盘均连接有驱动其转动的驱动电机,所述移动桌面上于所述放料盘和收料盘之间设置有连接板,所述连接板上设置有送料组件,IC料盘自所述放料盘引出经送料组件由收料盘进行收料。上述IC料盘检测装置采用类似于放电影式的收放料机构,用于X射线检测的光管和平板探测器分别设置于IC料侧面的上、下方,不仅提高了检测效率;而且提高了检测精度,大大降低了检测过程中的误判率。
技术领域
本发明属于X射线检测技术,尤其涉及一种基于X射线检测的IC料盘检测装置。
背景技术
众所周知,在IC料盘的生产过程中,需要对其进行X射线检测,因为IC料盘在检测中为带状结构,在检测过程中需要从其侧面进行透视检测,传统的桌面检测方式难以解决其放置与检测角度的问题。存在检测效率低和检测误判率高的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于X射线检测的IC料盘检测装置,以解决现有技术中IC料盘进行X射线检测时存在的放置及检测角度的问题。
为达此目的,本发明采用以下技术方案:
一种基于X射线检测的IC料盘检测装置,其包括底座、移动桌面、放料盘、收料盘和送料组件,其中,所述移动桌面可移动地安装于所述底座之上,且所述移动桌面连接有桌面驱动装置,所述放料盘和收料盘对应设置于所述移动桌面的两侧,且所述放料盘和收料盘均连接有驱动其转动的驱动电机,所述移动桌面上于所述放料盘和收料盘之间设置有连接板,所述连接板上设置有送料组件,IC料盘自所述放料盘引出经送料组件由收料盘进行收料。
特别地,所述送料组件包括固定于所述连接板上的送料板,所述送料板上开设有配合所述IC料盘宽度的送料槽,所述IC料盘自所述放料盘引出经送料槽由收料盘进行收料,且所述连接板上于所述送料槽的两端均设置有用于对IC料盘压紧的压紧机构。
特别地,所述连接板上于所述压紧机构的两侧均设置有导向滚轮。
特别地,所述移动桌面为框体结构,其框体内的两侧对应开设有若干个用于对棒料进行检测的卡槽。
特别地,所述桌面驱动装置包括驱动移动桌面沿其所处平面上下移动的第一驱动装置和沿其所处平面左右移动的第二驱动装置。
特别地,所述压紧机构包括安装板,所述安装板的一端铰接于所述连接板上,另一端通过压轮轴铰接有压轮,所述压轮轴上连接拉簧的一端,所述拉簧的另一端连接于销轴上,所述销轴固定于所述送料板上。
本发明的有益效果为,与现有技术相比所述基于X射线检测的IC料盘检测装置通过设置放料盘和收料盘,IC料盘自所述放料盘引出经送料组件由收料盘进行收料,形成类似于放电影式的收放料机构,用于X射线检测的光管和平板探测器分别设置于IC料侧面的上、下方,IC料盘在收放料中通过光管和平板探测器进行检测,彻底解决了IC料盘进行X射线检测时存在的放置及检测角度的问题;不仅提高了检测效率;而且提高了检测精度,大大降低了检测过程中的误判率。
附图说明
图1是本发明具体实施方式1中提供的基于X射线检测的IC料盘检测装置的俯视图;
图2是本发明具体实施方式1中提供的基于X射线检测的IC料盘检测装置的侧视图;
图3是图1中A处的局部放大图。
图中:
1、底座;2、移动桌面;3、放料盘;4、收料盘;5、连接板;6、送料板;7、送料槽;8、导向滚轮;9、安装板;10、压轮轴;11、压轮;12、拉簧;13、销轴;14、卡槽。
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