[实用新型]一种光模块突发光信号指示电平稳定性检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及光模块突发光信号指示电平稳定性检测电路，特别涉及GPONOLT光模块突发光信号指示电平稳定性检测电路。

背景技术

GPONOLT(GPON：GigabitPassiveOpticalNetwork，千兆无源光网络OLT：opticallineterminal光线路终端)光模块(opticalmodule)由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。光模块的接收测试参数有突发灵敏度，突发饱和，突发光信号指标，突发光功率指示等，对于突发灵敏度与突发饱和度测试一般使用专用的突发误码仪测试，但是专用的突发误码仪一般比较价格昂贵，所以有少量的GPONOLT光模块厂商开始自制突发测试设备，在比较大众化的方案中，一般会采用FPGA等高端芯片进行模拟，包括突发灵敏度与突发饱和的逐比特校对，RESET信号的可编程时序输出，RSSI触发信号的可编程时序输出，突发光信号指示电平的时序检测等。

在要求较高的厂商中，生产中突发误码仪均一般会使用安捷伦专用突发误码仪，但是此专用设备只具体测试突发灵敏度与饱和功能及其它时序输出功能，不具有检测时序功能。特别是对于突发信号检测（突发SD）功能是不具备的，一般会使用百兆级的示波器的余辉功能进行累积测试其建立的时间。但是这样的一种测试方法，虽然直观，但是成本较高，且对测试软件提出了更高的要求。

实用新型内容

本实用新型解决目前使用百兆级的示波器的余辉功能进行累积测试其建立的时间的测试方法，成本较高，且对测试软件提出了更高的要求的不足，提供一种光模块突发光信号指示电平稳定性检测电路。

本实用新型所采用的技术方案是：一种光模块突发光信号指示电平稳定性检测电路，在光模块的突发信号检测端加入反相器后，再在Reset端接入延时器，最后将两个信号输入到逻辑与门的两个输入端中，逻辑与门的输出接I/O总线。

本实用新型的电路简单，输出信号容易观察。

以下将结合附图和实施例，对本实用新型进行较为详细的说明。

附图说明

图1为光模块中Reset信号、SD信号和光信号时序图(一)。

图2为光模块中Reset信号、SD信号和光信号时序图(二)。

图3为本实用新型实施例1检测电路原理图。

图4为在图2中加入实施例1的检测电路图后的时序图。

具体实施方式

如图1所示为GPONOLT光模块的一般时序图，包括Reset信号，Optical信号，突发告警SD信号，在图1中，Ton为突发告警信号相对光信号的建立时间，此时间为合格建立时间，而Ton1为另一个突发告警信号相对光信号的建立时间，此时间明显较长，为不合格建立时间，建立时间之所以不同，与每一个突发包的光信号的质量有关，而测试设备就是为了检测出所有突发包的不合格建立时间，一旦出现一个突发包的建立时间不合理，就需要测试设备能够上报出来。

对于这个建立时间不合格的上报方式可以采用时间轴方向上时间差读数方法，也可以采用异常电平的采样方法。在本专利中，采用异常电平的采样方式。如图2所示，当Ton时间合格时，SDFail电平为低电平；当Ton时间不合格时，如Ton1，则SDFail电平为高电平。

图3所示为实施例1的GPONOLT光模块突发光信号指示电平稳定性检测电路原理图，如图3所示，Reset信号延时后与SD的反相信号进入到逻辑与门的两个输入端，在逻辑与门的输出端输出的信号中如果有高电平，则可以判断突发包的建立时间不合理，就需要测试设备能够上报出来。如图4中的SDFail信号。

对于GPONOLT的突发SD的建立时间Ton，根据每一个设备厂商都是有一个最大设定值Tset，在本实施例的方案中，如果Ton大于Tset，则SDFail置高。

Reset信号经过延时，延时时间Tdelay为（Tset+Treset）,Treset为Reset信号的时间长度，SD信号经过反向电路处理进行电平反向，两路信号进行与逻辑门，输出信号进入MCU进行边沿中断触发，以判断是否存在高电平，其时序图如下：当SD的建立时间Ton为合格时间时，经过电平反向后，与延时Tdelay的Reset信号进行与运算，由于此时SD反向信号为低电平，而Reset信号为高电平，两者求与后为低电平，则不会对MCU进行上升沿的中断触发；当SD的建立时间Ton1为不合格时间时，经过电平反向后，与延时Tdelay的Reset信号进行与运算，由于此时SD反向信号为高电平，而Reset信号为为高电平，两者求与后为高电平，则会对MCU进行上升沿的中断触发，以指标出此GPONOLT光模块的SD信号的电平不稳定。