[实用新型]偏光光测定装置及偏光光照射装置

说明书

技术领域

本实用新型的实施方式涉及一种偏光光测定装置及偏光光照射装置。

背景技术

在进行液晶显示元件的配向膜(alignmentfilm)、或视角补偿膜(film)的配向膜等的配向处理时，对被照射体照射规定波长的偏光光。

这种配向处理方法被称为光配向(opticalalignment)法。

为了进行广范围的配向处理而需要长的偏光元件，但难以制造长的偏光元件。

因此，使用呈直线状排列设置的多个偏光元件进行配向处理。

然而，如果使用多个偏光元件，则可能会因安装误差等而导致照射至被照射体的偏光光的偏光方向产生不均。

因此，提出有如下技术：使用被称为检偏元件(analyzer)的偏光元件(polarizer)来测定偏光光的偏光方向的不均，并基于测定结果而进行偏光方向的调整。

此处，在使用光配向法的情况下，优选也测定照射至被照射体的偏光光的光量。

在测定偏光光的光量的情况下，如果安装有检偏元件，则无法准确地测定偏光光的光量。

因此，在测定偏光光的偏光方向时，作业人员将检偏元件安装于检测部，且在测定偏光光的光量时，作业人员将检偏元件从检测部卸除。

然而，如果作业人员进行检偏元件的安装及卸除，则在测定偏光光的偏光方向时，有产生由安装误差所导致的测定误差的担忧。

另外，为了测定偏光方向，提出有使用线状体延伸的方向(透过轴的角度)不同的多种检偏元件的技术。

然而，如果使用多种检偏元件，则会导致偏光光测定装置的大型化或高成本化。

另外，因为偏光方向的测定精度取决于检偏元件的种类的数量，所以有无法进行精度高的测定的担忧。

因此，期望开发可精度佳地测定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的技术。

[背景技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]日本专利特开2014-10388号公报

[专利文献2]日本专利特开2007-127567号公报

实用新型内容

[实用新型所要解决的课题]

本实用新型所要解决的课题在于提供一种可精度佳地测定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的偏光光测定装置、及偏光光照射装置。

[解决课题的技术手段]

本实用新型的偏光光测定装置具备：第一偏光元件，供偏光光入射；旋转部，使所述第一偏光元件沿旋转方向移动；光电转换部，输出与所接收到的光的光量对应的电信号；及移动部，使所述第一偏光元件在第一位置与第二位置之间移动，所述第一位置是使所述偏光光经由所述第一偏光元件入射至所述光电转换部，所述第二位置是使所述偏光光直接入射至所述光电转换部。

本实用新型的偏光光测定装置，其中所述移动部在测定所述偏光光的偏光方向时，使所述第一偏光元件移动至所述第一位置，且在测定所述偏光光的光量时，使所述第一偏光元件移动至所述第二位置。

本实用新型的偏光光测定装置，其中所述第一偏光元件设置有多个线状体，所述多个线状体含有硅。

本实用新型的偏光光照射装置具备：光源，具有沿规定方向延伸的形态；多个第二偏光元件，沿所述光源延伸的方向排列设置，且使从所述光源出射的光为偏光光；及任一种所述的偏光光测定装置，所述偏光光测定装置设置于与所述多个第二偏光元件的所述光源侧相反的一侧。

本实用新型的的偏光光照射装置，其中所述第二偏光元件设置有多个线状体，所述多个线状体含有硅。

[实用新型效果]

根据本实用新型的实施方式，可提供一种可精度佳地测定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的偏光光测定装置、及偏光光照射装置。

附图说明

图1是用以例示本实施方式的偏光光测定装置1、及偏光光照射装置100的示意立体图。

图2是用以例示本实施方式的偏光光测定装置1的示意剖视图。

图3是用以例示偏光部102的示意俯视图。

图4是用以例示利用偏光光照射装置100产生偏光光Lp、及利用偏光光测定装置1测定偏光光Lp的偏光方向的示意立体图。

[符号的说明]

1：偏光光测定装置

2、102：偏光部

3：检测部

4、22：移动部

5、104：控制部

20、102a：偏光元件

21：保持部

21a：主体部

21a1：孔

21b：保持爪

30：光电转换部