[发明专利]用于选择性激光烧结设备或激光熔融设备的曝光控制的方法和设备有效
申请号: | 201580061317.9 | 申请日: | 2015-11-05 |
公开(公告)号: | CN107107467B | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | F·赫尔佐克;F·贝希曼;M·利珀特;J·霍赫 | 申请(专利权)人: | CL产权管理有限公司 |
主分类号: | B29C64/153 | 分类号: | B29C64/153;B29C64/393;B33Y10/00;B33Y30/00;B33Y50/02 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 吴鹏;马江立 |
地址: | 德国利希*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描仪 照射 照射区域 成型材料 熔融设备 激光烧结设备 激光 曝光控制 三维物体 照射装置 选择性激光烧结设备 方法和设备 辐射固化 最大可能 粉末层 检测 固化 相等 近似 制造 存储 覆盖 | ||
1.一种用于选择性的激光烧结设备或激光熔融设备的曝光控制的方法,所述设备用于制造三维物体,所述方法包括以下方法步骤:
-提供选择性的激光烧结设备或激光熔融设备(1),在该设备中能够通过在与物体的各横截面相对应的位置上连续固化能够借助于辐射固化的粉末状的成型材料(6)的层来制造三维物体,其中,所提供的设备(1)包括用于对成型材料的层进行照射的照射装置,该照射装置具有能够被分开地驱控的、同时照射成型材料的多个扫描仪(8a、8b),
其特征在于以下方法步骤:
-在第一步骤中分开地检测每个单独的扫描仪(8a、8b)的照射时间和/或由每个单独的扫描仪(8a、8b)所覆盖的照射区域并且存储所检测到的照射时间和/或照射区域;
-将各个扫描仪(8a、8b)的照射时间和/或照射区域相互进行比较;
-对成型材料层(11)的要被每个单独的扫描仪照射的表面区域进行重新确定,使得每个单独的扫描仪(8a、8b)的照射时间都尽可能彼此近似和/或每个单独的扫描仪(8a、8b)的照射区域就面积而言都在最大可能程度上彼此相等。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,扫描区(31、32)的划分在一个或多个成型材料层(11)固化之后分别动态地调整,使得在接下来的照射过程中所得到的照射时间对于每个扫描仪(8a、8b)都至少近似相同。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在成型过程开始之前,操作人员能够基于扫描仪(8a、8b)的可读取的控制数据对每个扫描仪的扫描区(31、32)的尺寸进行预设。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,每个扫描仪(8a、8b)的扫描区(31、32)在渐进的步骤中彼此适配。
5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,扫描区(31、32)之间的界限(30)是直线。
6.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,如果关于每个扫描仪(8a、8b)的照射时间或照射区域的比较得出的结果是不移动扫描区界限(30),则使扫描区(31、32)之间的界限(30)振荡。
7.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,一个扫描仪(8a、8b)在另一个扫描仪(8a、8b)的扫描区(31、32)中执行对照射区段的应力减小的预曝光。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,预曝光的曝光时间对扫描区界限移动没有影响。
9.一种用于实施根据上述权利要求1至8中任一项所述的方法的设备,即,用于制造三维物体的激光烧结设备或激光熔融设备(1),其中,该设备具有如下部件:
-在设备(1)的工艺腔(2)中布置有成型缸(3),该成型缸具有高度可调的成型平台(4);
-在成型平台(4)上方布置有涂覆单元(5),通过该涂覆单元能够将来自于定量给料腔(7)的成型材料(6)在成型缸(3)的区域中涂覆成薄层的形式;
-在成型缸(3)上方布置有多个扫描仪(8a、8b),通过这些扫描仪,一个或多个辐射源(10)的辐射(3)能够以工艺受控的方式转向到成型材料层(11)上,以便选择性地固化成型材料层,
其特征在于,
设有电子检测单元(20),通过该电子检测单元分开地检测关于每个单独的扫描仪(8a、8b)的照射时间和/或在照射步骤中由每个单独的扫描仪(8a、8b)覆盖的照射区域,并且存储在电子存储器(21)中;
设有电子比较器(22),通过该电子比较器能够将所存储的各个扫描仪(8a、8b)的照射时间数值和/或将各个扫描仪(8a、8b)的照射区域数值相互比较;
设有处理器(23),该处理器与比较器(22)的输出端连接,并且在各个扫描仪(8a、8b)的照射时间数值或照射区域数值有偏差时,对要被每个单独的扫描仪(8a、8b)照射的表面区域进行重新确定,使得每个单独的扫描仪(8a、8b)的照射时间和/或照射区域就面积而言在最大可能程度上彼此相等。
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