[发明专利]一种制导弹药整弹电性能仿真测试装置

说明书

技术领域

本发明属于制导弹药测试技术领域，涉及一种制导弹药整弹电性能仿真测试装置。

背景技术

通常而言，制导弹药产品是基于千万个元器件构成的复杂电子产品，或由若干组件和部件组成的系统级产品。而系统级产品的维护保障更趋近于一个庞大的系统工程。在这个系统工程中，很重要的一部分则是试验测试系统，它主要完成系统级产品的各种参数的测试和功能验证，包括可靠性试验、地面仿真等。

制导弹药产品整体参数和功能验证是测试制导弹药系统总体性能的重要工作，无论是在生产验收阶段，还是长期储存阶段和发射前的准备阶段，制导弹药整弹电性能仿真测试都是常规测试的主要方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种能够通过弹体上预留的测试接口对制导弹药整体进行智能化测试的制导弹药整弹电性能仿真测试装置。

为解决上述技术问题所采用的技术方案是：一种制导弹药整弹电性能仿真测试装置，其包括工控机、路由器、数字多用表、函数发生器、程控电源、选择开关、数字I/O模块、转换电路、适配电路、转换控制电路和脉冲产生电路；

所述转换电路包括第25至第28继电器以及第18继电器；

所述数字多用表、程控电源、函数发生器、选择开关和数字I/O模块分别通过路由器与所述工控机相连接；

所述数字多用表与所述选择开关的相应端口相连接；

所述选择开关分别与导弹体X8和所述适配电路的相应端口相连接；

所述适配电路与导弹体X8的相应端口相连接；

所述函数发生器与所述脉冲产生电路的相应端口相连接；

所述数字I/O模块分别与所述脉冲产生电路和转换控制电路的相应端口相连接；

所述程控电源分别与转换控制电路和脉冲产生电路的相应端口相连接；

所述程控电源的端口DY1+经所述第25继电器的第1常开触点KDT25-1接导弹体X8的电源正端口DTZ；所述程控电源的端口DY1-经所述第25继电器的第2常开触点KDT25-2接导弹体X8的GND端口DTGD；

所述程控电源的端口DY2-经所述第18继电器的第1常开触点KDT18-1接导弹体X8的电源负端口DTF；所述程控电源的端口DY2+经所述第18继电器的第2常开触点KDT18-2接导弹体X8的GND端口DTGD；

导弹体X8的fin检测点端口DT6经所述第28继电器的第1常开触点KDT28-1接所述脉冲产生电路的相应端口；导弹体X8的GND端口DTGD经所述第28继电器的第2常开触点KDT28-2接所述脉冲产生电路的相应端口；

导弹体X8的z端口DT4经所述第26继电器的第1常开触点KDT26-1接导弹体X8的-Y端口DT7；导弹体X8的y端口DT5经所述第26继电器的第2常开触点KDT26-2接导弹体X8的-Z端口DT8；

导弹体X8的fin检测点端口DT6经所述第27继电器的第1常开触点KDT27-1接导弹体X8的VA端口DT18。

所述脉冲产生电路包括反相器U11A、反相器U11B、计数器U12、选择器U13、开关模块U14、电阻R90、第一脉冲控制继电器、端口MZ1和端口MGD1；

所述函数发生器的输出端XF1经所述第一脉冲控制继电器的第1常开触点KMZ1-1接所述开关模块U14的4脚；

所述函数发生器的输出端XF1D接所述开关模块U14的11脚；

所述函数发生器的输出端XF2经所述第一脉冲控制继电器的第2常开触点KMZ1-2接所述开关模块U14的3脚；

所述函数发生器的输出端XF2D接所述开关模块U14的12脚；

所述开关模块U14的2脚和5脚分别接所述端口MZ1；

所述端口MZ1经所述第28继电器的第1常开触点KDT28-1接导弹体X8的fin检测点端口DT6；

所述开关模块U14的10脚和13脚分别接所述端口MGD1；

所述端口MGD1经所述第28继电器的第2常开触点KDT28-2接导弹体X8的GND端口DTGD；

所述反相器U11A的输入端1脚接所述数字I/O模块的端口CLK；

所述选择器U13的1脚至4脚分别接所述数字I/O模块对应的端口D3~D0；所述选择器U13的12脚至15脚分别接所述数字I/O模块对应的端口D7~D4；

所述反相器U11A的输出端2脚接所述计数器U12的5脚；