[发明专利]一种RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法在审
申请号: | 201610513930.6 | 申请日: | 2016-06-30 |
公开(公告)号: | CN107563110A | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | 肖继军;邹文秀 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人: | 薛云燕 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 rdx 石蜡 缺陷 晶体 复合 体系 模拟 方法 | ||
1.一种RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1,用材料工作站打开RDX的晶体信息文件,把文件中所有的N-O单键改为虚双键;
步骤2,建立(2×2×3)、(1×1×3)和(2×2×2)超胞模型,沿着(100)和(110)晶面切割(2×2×3)超胞模型,沿着(120)和(210)晶面切割(1×1×3)超胞模型,沿着(111)晶面切割(2×2×2)超胞模型,得到切割模型;
步骤3,建立正三十烷烃分子链,将构建好的4条正三十烷烃分子链逐步压缩并进行分子动力学模拟,直至正三十烷烃分子链的密度达到理论值;
步骤4,在步骤2所得切割模型的上部设置真空层,并用压缩后的正三十烷烃分子链填充该真空层,建立与该切割模型对应的复合体系模型;
步骤5,用Materials Studio确定RDX模型及其与石蜡复合模型的球心,在球心处移除6个分子,得到含不同孔径的RDX缺陷晶体及其复合体系的模型;
步骤6,对RDX缺陷晶体及其复合体系的模型退火,并对收集的轨迹进行分析。
2.根据权利要求1所述的RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法,其特征在于,步骤1所述材料工作站采用软件Materials Studio,晶体信息文件是以X-ray衍射晶体数据为依据的RDX晶体的cif文件。
3.根据权利要求2所述的RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法,其特征在于,步骤2所述的建立超胞模型,沿不同晶面切割各个超胞模型,得到切割模型,具体为:对于(2×2×3)RDX超晶胞,首先建立2a×2b×3c超胞模型,其中a、b、c为RDX晶体的晶胞参数,然后点击MS任务栏中的Build,选择Surfaces,再选其中的Cleave Surface,其中cleave plane填入切割晶面,点击Cleave建立切割模型;其他超胞的建立及切割按照上述方法。
4.根据权利要求2所述的RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法,其特征在于,步骤6所述对RDX缺陷晶体及其复合体系的模型退火,并对收集的轨迹进行分析,具体为:在MS的Forcite模块,对RDX缺陷晶体及其复合体系模型进行1ns的退火模拟,共收集100个轨迹,并对收集的轨迹数据进行分析。
5.根据权利要求3所述的RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法,其特征在于,所述cleave plane中分别填入100、110、120、210、111,得到的5种切割模型都含有144个RDX分子数。
6.根据权利要求4所述的RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法,其特征在于,所述退火模拟的起始和终止温度分别为290k和10k,循环100次。
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