[发明专利]成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置

说明书

提供成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置，简化进行统计解析以比较从多个试样分别得到的成像质量分析数据的作业，提高该解析的精度。在想比较的两个试样的成像质量分析数据的测量点间隔不同、还想比较物质的空间分布扩展的尺寸时，以一个数据为基准重新定义另一个数据的测量点间隔以使测量点间隔一致，通过基于实际测量点的质谱的内插或外插求出设定的虚拟测量点的质谱。在各试样的质谱的m/z值阵列不同时，以一个数据的质谱的m/z值的位置为基准对另一个数据的质谱通过内插或外插求出基准m/z值的强度值。使测量点间隔、m/z值阵列一致而能够整合数据，作为一个成像质量分析数据进行处理而能简单地进行峰值矩阵制作等处理。

本申请是申请日为2014年4月22日、申请号为201410163234.8、发明名称为“成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置”的申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及适用于成像质量分析装置的数据处理方法以及使用了该数据处理方法的成像质量分析装置，该成像质量分析装置能够获取表示试样上的特定的质量电荷比或者质量电荷比范围的离子的信号强度分布的成像图像。

背景技术

质量分析成像是如下一种方法；通过对生物体组织切片等试样的二维区域内的多个测量点(微小区域)分别进行质量分析，来研究具有特定的质量的物质的分布，该质量分析成像正不断应用于药物发现(drug discovery)、生物标记探索、各种疾病、疾患的原因探明等。用于实施质量分析成像的质量分析装置一般被称为成像质量分析装置。另外，通常对试样上的任意的二维区域进行显微观察，基于该显微观察图像来确定分析对象区域并执行该区域的成像质量分析，因此有时也称为显微质量分析装置、质量显微镜等，但在本说明书中决定称为“成像质量分析装置”。例如在非专利文献1、2中公开了普通的成像质量分析装置的结构、分析例。

在成像质量分析装置中，在试样上的二维区域内的多个测量点处分别获取规定的质量电荷比范围的质谱数据。为了实现高质量分辨率，通常利用飞行时间型质量分析器(TOFMS)来作为质量分析器，例如与由四极型质量分析装置等得到的质谱数据的数据量相比，每个测量点的质谱数据(或者飞行时间谱数据)的数据量相当多。另外，为了获得精确的成像图像(即提高空间分辨率)，需要缩小测量点的间隔，于是，针对一个试样的测量点的数量变多。因此，当想要进行高质量分辨率、高空间分辨率的质量分析成像时，每个试样的数据的总量变得庞大。

为了通过使用了普通的个人计算机的数据处理来制作并显示成像图像，或者对成像图像进行统计解析，需要将处理对象的所有数据读入该计算机的主存储器(一般为RAM)。然而，在普通的个人计算机中能够实际使用的主存储器的存储容量有限，难以读入所有如上所述的高清晰度的成像质量分析数据。在这种情况下，需要根据能够读入主存储器的数据量的制约来限制能够制作和显示的成像图像的范围，或者进行以下处理：一边允许降低处理速度一边将硬盘驱动器等外部存储装置的一部分用作虚拟的主存储器。

针对这样的问题，在专利文献1～3中公开了一种对由成像质量分析装置得到的质谱数据进行压缩并保存的技术。通过利用这种数据压缩技术，能够缩小作为处理对象的成像质量分析数据的数据量并读入主存储器。另外，在专利文献1所记载的方法中，预先制作将压缩前的原质谱数据的阵列上的位置与压缩数据的阵列上的位置相关联的索引，将该索引与压缩数据一起存储或者与压缩数据分开存储。而且，在需要读出与某个质量电荷比对应的数据(离子强度值)的情况下，通过参照索引信息找出与目标数据对应的压缩数据并将其解码。通过这样，能够一边进行数据压缩，一边迅速地获取目标数据。