[发明专利]校正装置、校正方法及测量系统

权利要求书

1.一种用于校正磁致伸缩传感器的校正装置，所述磁致伸缩传感器用于测量一物体且其包括与该物体相邻的传感元件，所述校正装置包括：

估算装置，其被配置成基于所述磁致伸缩传感器的几何信息、激励信号和输出信号，及所述物体的几何信息，估算所述传感元件与所述物体间的间隙及所述物体的温度的至少其中之一，以得到估算间隙和估算温度的至少其中之一；

修正器，其被配置成基于所述估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，减少所述间隙和所述温度的至少其中之一的变化对于所述磁致伸缩传感器的输出信号的影响，以得到修正后的输出信号，

其中，所述磁致伸缩传感器包括多个传感元件，该多个传感元件分别输出多个输出信号，所述估算装置被配置成估算所述多个传感元件与所述物体间的间隙以及所述物体的温度的至少其中之一，以得到多个估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，且所述校正装置进一步包括共模抑制装置，其被配置成基于共模抑制信号来抑制所述多个输出信号中的共模分量。

2.根据权利要求1所述的校正装置，其中，所述修正器包括第一调节器，其被配置成基于所述估算间隙和所述估算温度的至少其中之一调节所述激励信号。

3.根据权利要求2所述的校正装置，其中，所述第一调节器包括：

第一补偿量计算器，其被配置成基于所述估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，计算激励信号补偿量；及

第一补偿器，其被配置成根据所述激励信号补偿量，补偿所述激励信号。

4.根据权利要求1所述的校正装置，其中，所述修正器包括第二调节器，其被配置成基于所述多个估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，调节所述共模抑制信号。

5.根据权利要求4所述的校正装置，其中，第二调节器包括：

第二补偿量计算器，其被配置成基于所述多个估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，计算共模抑制信号补偿量；及

第二补偿器，其被配置成根据所述共模抑制信号补偿量，补偿所述共模抑制信号。

6.根据权利要求1所述的校正装置，其中，所述估算装置被配置成基于一算法估算所述间隙和所述温度的至少其中之一，且所述算法包括：线性模型、非线性模型、基于物理模型的算法、基于数据驱动模型的算法或其任意组合。

7.根据权利要求1所述的校正装置，其中，所述估算装置被配置成基于一算法估算所述间隙和所述温度的至少其中之一，且所述算法包括：最优回归模型、神经网络模型、物理逆模型、扩展卡尔曼滤波器、无迹卡尔曼滤波器或其任意组合。

8.一种用于测量物体的测量系统，该测量系统包括：

磁致伸缩传感器，其包括与所述物体相邻的传感元件；

估算装置，其被配置成基于所述磁致伸缩传感器的几何信息、激励信号和输出信号，及所述物体的几何信息，估算所述传感元件与所述物体间的间隙及所述物体的温度的至少其中之一，以得到估算间隙和估算温度的至少其中之一；

修正器，其被配置成基于所述估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，减少所述间隙和所述温度的至少其中之一的变化对于所述磁致伸缩传感器的输出信号的影响，以得到修正后的输出信号；及

计算器，其被配置成基于所述修正后的输出信号来计算所述物体的应力、扭矩和转速的至少其中之一，

其中，所述磁致伸缩传感器包括多个传感元件，该多个传感元件分别输出多个输出信号，所述估算装置被配置成估算所述多个传感元件与所述物体间的间隙以及所述物体的温度的至少其中之一，以得到多个估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，且所述测量系统进一步包括共模抑制装置，其被配置成基于共模抑制信号来抑制所述多个输出信号中的共模分量。

9.根据权利要求8所述的测量系统，其中，所述估算装置被配置成基于一算法估算所述间隙和所述温度的至少其中之一，且所述算法包括：线性模型、非线性模型、基于物理模型的算法、基于数据驱动模型的算法或其任意组合。