[发明专利]暗室多波面控制器测试系统、方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610930974.9 申请日: 2016-10-31
公开(公告)号: CN106788791B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 李雨翔;张志华 申请(专利权)人: 北京中科国技信息系统有限公司
主分类号: H04B17/10 分类号: H04B17/10;H04B17/20;H04B7/0413
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 韩建伟;张永明
地址: 100097 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 暗室 多波面 控制器 测试 系统 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种暗室多波面控制器测试系统,其特征在于,所述测试系统包括:多个波面控制器,其中,所述波面控制器包括:

可编程N路功分器,用于将所述波面控制器分成N路信道,每路信道包括:

天线探头,用于发生探测信号,其中,所述探测信号经待测设备反射形成测试信号;

可编程相位控制器,用于对所述测试信号进行相位控制;

可编程幅度控制器,用于对所述测试信号进行幅度控制;

当待测设备是平面测试对象时,选择一至二个波面控制器构建平面无线波面环境,当待测设备是立体测试对象时,选择二至多个波面控制器构建球面无线波面环境。

2.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括:

无线通信综合测试仪,用于与所述待测设备进行通信,并测量通信过程中的通信性能;

信道仿真器,用于模拟无线信号传播过程中的路径损耗及传输时延;

功率放大器,用于对所述信道中的信号的功率进行放大补偿;

网络分析仪,用于对所述信道进行量化测量和校准;

射频信号处理单元,用于对所述N路信道进行切换,并对所述待测设备的性能进行测试;

转台控制单元,用于对所述待测设备所在的转台进行控制。

3.一种暗室多波面控制器测试方法,其特征在于,包括:

根据待测设备的属性参数确定至少一个波面控制器,其中,所述属性参数包括:所述待测设备的形状、所述待测设备的信号辐射方向;

确定所述待测设备上的M个采样点;

利用所述至少一个波面控制器分别对所述M个采样点进行相位控制和幅度控制,以实现对所述待测设备的性能测试;

当待测设备是平面测试对象时,选择一至二个波面控制器构建平面无线波面环境,当待测设备是立体测试对象时,选择二至多个波面控制器构建球面无线波面环境。

4.根据权利要求3所述的测试方法,其特征在于,所述波面控制器包括可编程N路功分器,用于将所述波面控制器分成N路信道,每路信道包括:天线探头、可编程相位控制器以及可编程幅度控制器,所述天线探头用于发生探测信号,所述探测信号经所述待测设备发生形成测试信号,所述可编程相位控制器用于对所述测试信号进行相位控制,所述可编程幅度控制器用于对所述测试信号进行幅度控制,其中,所述利用所述至少一个波面控制器分别对所述M个采样点进行相位控制和幅度控制包括:

利用所述至少一个波面控制器中的每个波面控制器中的所述可编程相位控制器分别对每个采样点进行相位控制;

利用所述至少一个波面控制器中的每个波面控制器中的所述可编程幅度控制器分别对每个采样点进行幅度控制。

5.根据权利要求4所述的测试方法,其特征在于,利用所述至少一个波面控制器中的每个波面控制器按照以下公式对所述M个采样点中的第m个采样点进行相位控制和幅度控制,得到所述第m个采样点的信号强度:

其中,为所述第m个采样点的信号强度,N为所述波面控制器中所述天线探头的总数量,n为N个天线探头中的第n个天线探头,Rmn为所述第n个天线探头到所述第m个采样点的距离,wn为所述可编程N路功分器所分成的N路信道中的第n路信道的功率分配权重。

6.根据权利要求5所述的测试方法,其特征在于,按照以下公式获取所述待测设备反射的所述测试信号的强度:

其中,E为所述测试信号的强度,为所述第m个采样点的信号强度,M为所述M个采样点的总数量。

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