[发明专利]暗室多波面控制器测试系统、方法及装置

说明书

本发明公开了一种暗室多波面控制器测试系统、方法及装置。其中，该测试系统包括：多个波面控制器，其中，波面控制器包括：可编程N路功分器，用于将波面控制器分成N路信道，每路信道包括：天线探头，用于发生探测信号，其中，探测信号经待测设备反射形成测试信号；可编程相位控制器，用于对测试信号进行相位控制；可编程幅度控制器，用于对测试信号进行幅度控制。本发明解决了相关技术中暗室多探头法无法满足大尺寸的基站多天线以及大规模阵列多天线的测试需求的技术问题。

技术领域

本发明涉及信号测试领域，具体而言，涉及一种暗室多波面控制器测试系统、方法及装置。

背景技术

多天线技术(Multiple-Input Multiple-Output，简称为MIMO)技术是指在发射端和接收端分别使用多个发射天线和接收天线，使信号通过发射端与接收端的多个天线传送和接收，从而改善通信质量。它能充分利用空间资源，通过多个天线实现多发多收，在不增加频谱资源和天线发射功率的情况下，可以成倍的提高系统信道容量，显示出了明显的优势、被视为下一代移动通信的核心技术。

当前针对MIMO技术性能的测试方法，主要采用暗室多探头法(Multi-ProbeAnechoic Chamber，简称为MPAC)。通过该方法可以有效对MIMO技术的终端设备进行吞吐量、误码率等性能测试。但是，暗室多探头法是基于MIMO技术终端，即手机等小型化设备的测试方法。由于其局限性，无法满足大尺寸的基站多天线以及大规模阵列多天线的测试需求。

针对相关技术中暗室多探头法无法满足大尺寸的基站多天线以及大规模阵列多天线的测试需求的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种暗室多波面控制器测试系统、方法及装置，以至少解决相关技术中暗室多探头法无法满足大尺寸的基站多天线以及大规模阵列多天线的测试需求的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种暗室多波面控制器测试系统，包括：测试系统包括：多个波面控制器，其中，波面控制器包括：可编程N路功分器，用于将波面控制器分成N路信道，每路信道包括：天线探头，用于发生探测信号，其中，探测信号经待测设备反射形成测试信号；可编程相位控制器，用于对测试信号进行相位控制；可编程幅度控制器，用于对测试信号进行幅度控制。

进一步地，测试系统还包括：无线通信综合测试仪，用于与待测设备进行通信，并测量通信过程中的通信性能；信道仿真器，用于模拟无线信号传播过程中的路径损耗及传输时延；功率放大器，用于对信道中的信号的功率进行放大补偿；网络分析仪，用于对信道进行量化测量和校准；射频信号处理单元，用于对N路信道进行切换，并对待测设备的性能进行测试；转台控制单元，用于对待测设备所在的转台进行控制。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种暗室多波面控制器测试方法，包括：根据待测设备的属性参数确定至少一个波面控制器，其中，属性参数包括：待测设备的形状、待测设备的信号辐射方向；确定待测设备上的M个采样点；利用至少一个波面控制器分别对M个采样点进行相位控制和幅度控制，以实现对待测设备的性能测试。

进一步地，波面控制器包括可编程N路功分器，用于将波面控制器分成N路信道，每路信道包括：天线探头、可编程相位控制器以及可编程幅度控制器，天线探头用于发生探测信号，探测信号经待测设备发生形成测试信号，可编程相位控制器用于对测试信号进行相位控制，可编程幅度控制器用于对测试信号进行幅度控制，其中，利用至少一个波面控制器分别对M个采样点进行相位控制和幅度控制包括：利用至少一个波面控制器中的每个波面控制器中的可编程相位控制器分别对每个采样点进行相位控制；利用至少一个波面控制器中的每个波面控制器中的可编程幅度控制器分别对每个采样点进行幅度控制。