[发明专利]星载高速LVDS并行信号快速测试与分析的方法

说明书

本发明提供了一种星载高速LVDS并行信号快速测试与分析的方法，包括以下步骤：步骤一：建立一个LVDS信号标准时域图模型；步骤二：根据被测信号接口规范，计算信号周期和信号判决幅度；步骤三：形成一种时域特性的“六边形”测试模板；步骤四：选择信号特性匹配的无源测试组件；步骤五：设置示波器与差分探头的测试参数；步骤六：测试单路LVDS信号，图形化分析信号有效性；步骤七：重复以上步骤，完成多路LVDS并行信号测试与分析；步骤八：融合各路信号测试结果，完成高速LVDS并行接口测试和分析。本发明适用于各种传输速率的并行LVDS接口，解决高速LVDS并行接口无法快速测试和准确分析的技术问题。

技术领域

本发明涉及一种信号快速测试与分析的方法，具体地，涉及一种星载高速LVDS并行信号快速测试与分析的方法。

背景技术

LVDS(低电压差分信号)并行信号作为航天器一类重要数据传输信号，由于其传输电压低，抗外部干扰能力强，传输速率高，接口稳定性高等方面特点，在航天器的数据传输领域发挥重要作用。在数据传输应用中，要求LVDS并行信号接口传输准确，工作稳定，既不受外部环境因素的影响，也不受内部多路并行信号之间的影响，而且要求对接口信号功能和性能进行全面测试与分析。

星载LVDS并行信号数据传输速率已从几Mbps发展至及百Mbps，数据位宽也已从1bit发展至32bit。对于高速率和多位宽的LVDS信号传输应用来说，这就要求对逐位信号进行功能测试，而且分析每一类速率的传输特性，测试覆盖性要求更加严格。因此，快速和准确测试LVDS并行信号特性的方法是航天器系统数据传输领域测试工作的一个技术难点。

目前在航天器的数据传输领域，LVDS并行信号测试主要采用误码率测试和TTL信号测试两种方法。误码率测试需要构建一套完整的数据收发和比对有源系统，能够适应不同传输频率和传输位宽的要求，并按照误码率要求积累足够的测试样本，不仅测试设备和测试过程成本较高，而且无法对出现的误码情况进行有效定位分析。TTL信号测试需要设计一套信号收发匹配的信号电平转换有源设备，属于信号内部转换接口测试，无法直接反映作为产品外部接口的LVDS信号特性。

若要求一个LVDS并行接口适应不同速率和位宽，满足数据正常传输要求，必须对各种速率和位宽状态进行全面测试和特性分析，这是原有的测试方法无法实现，必须寻求一种新的LVDS并行信号快速测试和分析方法。

因此，现有技术的LVDS并行信号测试方法主要存在测试成本较高，特性分析不直观的技术问题。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种星载高速LVDS并行信号快速测试与分析的方法，其解决现有技术的LVDS并行信号测试方法测试成本较高，特性分析不直观的技术问题。

根据本发明的一个方面，提供一种星载高速LVDS并行信号快速测试与分析的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：建立一个LVDS信号标准时域图模型；

步骤二：根据被测信号接口规范，计算信号周期和信号判决幅度；

步骤三：形成一种时域特性的“六边形”测试模板；

步骤四：选择信号特性匹配的无源测试组件；

步骤五：设置示波器与差分探头的测试参数；

步骤六：测试单路LVDS信号，图形化分析信号有效性；

步骤七：重复以上步骤，完成多路LVDS并行信号测试与分析；

步骤八：融合各路信号测试结果，完成高速LVDS并行接口测试和分析。