[发明专利]一种参考环校准方法及装置

说明书

本发明提供一种参考环校准方法及装置，通过选取N个参考环，分别计算得到每个参考环组中的参考环间的阻抗补偿因子；利用阻抗补偿因子，分别计算得到每个参考环组中的参考环间的衰减差值；利用衰减差值，计算得到当前参考环的误差值；利用所述当前参考环的误差值，计算所述当前参考环的修正参数；依据所述当前参考环的修正参数对所述当前参考环进行校准。通过利用阻抗补偿因子对参考环间的衰减差值进行补偿，可以消除由于参考环自身阻抗对测量结果的影响，然后利用计算得到的修正参数对参考环进行校准，进而减小了对应答器测试结果的影响。

技术领域

本发明属于参考环技术领域，尤其涉及一种参考环校准方法及装置。

背景技术

现有技术中，将参考环作为应答器测试中的参考天线，在射频能量和上行链路这两个频点进行测试。由于参考环制作的材料、工艺等客观原因，制作的参考环与理论公式计算的参考环存在一定的误差，进而导致利用上述参考环作为参考天线对应答器进行测试时，会对应答器的测试结果产生影响。

因此，参考环在实际使用中有校准的需求，以期通过校准来减小这个误差，以提高应答器测试结果的精度。

在传统的校准方法中，通常是使用一个比被测物精度更高的校准件来对被测物进行校准。但是，参考环只是一个铁路专用产品的参考件，并不存在一个公认的可以作为最高精度的标准参考环，因此，并不能采用标准参考环对制作的参考环进行校准。

目前通常的做法是，使用未校准的参考环测量时，进行多次测量，再对测量结果进行平均。但是这样做只能减小人为误差，无法减小系统误差。即并不能消除参考环本身的误差，对应答器测试结果的影响。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种参考环校准方法，用于实现对参考环的校准，减小对应答器测试结果的影响。

技术方案如下：

本发明提供一种参考环校准方法，所述方法包括：

选取N个参考环，其中，N≥3；

分别计算得到每个参考环组中的参考环间的阻抗补偿因子；其中，所述参考环组由N个参考环中任意两个参考环组成；

利用每个参考环组中的参考环间的阻抗补偿因子，分别计算得到每个参考环组中的参考环间的衰减差值；

利用组成参考环组的两个参考环中包含当前参考环的参考环组中的参考环间的衰减差值、和组成参考环组的两个参考环中不包含当前参考环的参考环组中的参考环间的衰减差值，计算得到当前参考环的误差值；其中，所述当前参考环为所述N个参考环中任意一个；

利用所述当前参考环的误差值，计算所述当前参考环的修正参数；

依据所述当前参考环的修正参数对所述当前参考环进行校准。

优选地，所述分别计算得到每个参考环组中的参考环间的阻抗补偿因子包括：

分别测量得到每个参考环的自由空间阻抗；

分别测量得到每个参考环组中的第一参考环的负载阻抗；

利用当前参考环组中的第一参考环的负载阻抗和所述当前参考环组中的第二参考环的自由空间阻抗，计算得到当前参考环组中的参考环间的阻抗补偿因子；其中，所述当前参考环组为由N个参考环中任意两个参考环组成的参考环组中的任意一个。

优选地，所述利用每个参考环组中的参考环间的阻抗补偿因子，分别计算得到每个参考环组中的参考环间的衰减差值包括：

分别测量每个参考环组中的参考环间的传输衰减，得到每个参考环组中的参考环间的测量传输衰减值；

利用参考环组中的参考环间的阻抗补偿因子，对参考环组中的参考环间的测量传输衰减值进行补偿，得到补偿测量传输衰减值；