[发明专利]一种半导体元件的封装方法及封装结构在审

专利信息
申请号: 201611183678.3 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN107045989A 公开(公告)日: 2017-08-15
发明(设计)人: 江一汉;徐振杰;曹周 申请(专利权)人: 杰群电子科技(东莞)有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L23/495;H01L23/367;H01L23/373
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 孟金喆,胡彬
地址: 523750 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 元件 封装 方法 结构
【权利要求书】:

1.一种半导体元件的封装方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:将引线框架(1)和焊接于引线框架(1)的基岛(11)正面的芯片(2)注塑封装,保持基岛(11)的背面外露于注塑封装层(3);

S2:在所述基岛(11)的背面形成绝缘导热层(4);

S3:在所述绝缘导热层(4)的表面形成金属散热层(5)。

2.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,步骤S2具体包括:

S21:在所述基岛(11)的背面设置绝缘导热材料;

S22:固化所述绝缘导热材料形成所述绝缘导热层(4)。

3.如权利要求2所述的封装方法,其特征在于,所述绝缘导热材料通过涂覆、灌封或注塑等方式设置于所述基岛(11)的背面。

4.如权利要求2所述的封装方法,其特征在于,所述绝缘导热材料为环氧树脂封装材料。

5.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,步骤S3具体包括:通过溅镀或3D打印的方法将金属材料固定于所述绝缘导热层(4)的表面形成所述金属散热层(5)。

6.如权利要求5所述的封装方法,其特征在于,所述金属材料为铜或铝。

7.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述绝缘导热层(4)低于注塑封装层(3)的表面。

8.如权利要求7所述的封装方法,其特征在于,所述绝缘导热层(4)的厚度为0.1-0.2mm,所述金属散热层(5)的外表面凸出于所述注塑封装层(3)的表面或与所述注塑封装层(3)的表面持平。

9.如权利要求7所述的封装方法,其特征在于,所述金属散热层(5)的区域从所述绝缘导热层(4)向外延伸到注塑封装层(3)的表面。

10.一种半导体元件的封装结构,其特征在于,包括引线框架(1)和焊接于引线框架(1)的基岛(11)正面的芯片(2),所述引线框架(1)和所述芯片(2)注塑封装,且所述引线框架(1)的基岛(11)的背面外露于注塑封装层(3),所述基岛(11)的背面向外依次设置有绝缘导热层(4)和金属散热层(5)。

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