[发明专利]荧光检测方法和系统

权利要求书

1.一种用于多重荧光检测的方法，所述方法包括：

提供样品，该样品包含与第一分析物结合的第一荧光标记物和与第二分析物结合的第二荧光标记物；

其中，第一荧光标记物选自由钌Ru(II)、锇Os(II)和铼Re(I)的过渡金属螯合物构成的组，第二荧光标记物选自由钐Sm(III)、镝Dy(III)、铕Eu(III)和铽Tb(III)的镧系元素螯合物构成的组；

用具有第一激发波长的第一激发光照射所述第一荧光标记物，其中所述第一荧光标记物发射具有第一发射波长的第一检测信号；

用具有不同于所述第一激发波长的第二激发波长的第二激发光照射所述第二荧光标记物，其中所述第二荧光标记物发射具有第二发射波长的第二检测信号；

在第一测量时间测量所述第一检测信号的强度，其中所述第一检测信号的强度与所述样品中的所述第一分析物的量相关；

停止照射所述第二荧光标记物；和

在停止照射所述第二荧光标记物之后，在第二测量时间测量所述第二检测信号的强度，其中所述第二检测信号的强度与所述样品中所述第二分析物的量相关。

2.根据权利要求1所述的方法，包括在照射所述第一荧光标记物的同时测量所述第一检测信号的强度。

3.根据权利要求1所述的方法，包括停止照射所述第一荧光标记物，以及在停止照射所述第一荧光标记物之后，测量所述第一检测信号的强度。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一激发波长处于近红外范围内，并且所述第一发射波长处于可见光范围内。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二激发波长处于紫外线范围内，并且所述第二发射波长长于所述第二激发波长。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述样品包含与第三分析物结合的第三荧光标记物，并且所述方法还包括：

用具有与所述第一激发波长和所述第二激发波长不同的第三激发波长的第三激发光照射所述第三荧光标记物，其中所述第三荧光标记物发射具有第三发射波长的第三检测信号；

停止照射所述第三荧光标记物；和

在停止照射所述第三荧光标记物之后，在第三测量时间测量所述第三检测信号的强度。

7.根据权利要求6所述的方法，包括以下中的至少一者：

其中所述第三发射波长不同于所述第一发射波长和所述第二发射波长；

其中所述第三测量时间不同于所述第一测量时间和所述第二测量时间。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一荧光标记物具有第一荧光发射寿命，所述第二荧光标记物具有第二荧光发射寿命，并且所述第二荧光发射寿命选自由以下构成的组：

所述第二荧光发射寿命不同于所述第一荧光发射寿命；

所述第二荧光发射寿命长于所述第一荧光发射寿命；

所述第二荧光发射寿命比所述第一荧光发射寿命长至少5倍；

所述第二荧光发射寿命比所述第一荧光发射寿命长至少100倍；

所述第二荧光发射寿命比所述第一荧光发射寿命长至少1,000倍；

所述第二荧光发射寿命在0.1μs到10μs的范围内；和

所述第二荧光发射寿命在100μs到1ms的范围内。

9.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一荧光标记物和所述第二荧光标记物中的至少一者的斯托克斯位移选自由以下构成的组：斯托克斯位移大于20nm；斯托克斯位移大于100nm；斯托克斯位移大于250nm；以及斯托克斯位移在250nm至350nm的范围内。

10.根据权利要求1所述的方法，包括以下中的至少一者：

其中所述第二发射波长不同于所述第一发射波长；

其中所述第二测量时间不同于所述第一测量时间。