[发明专利]用于互连的钌金属特征部填充有效
申请号: | 201680040035.5 | 申请日: | 2016-06-03 |
公开(公告)号: | CN107836034B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 尤凯鸿;赫里特·J·勒斯因克;考利·瓦吉达;石坂忠大;袴田隆宏 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/285;C23C16/16;C23C16/455;C23C16/46 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 蔡胜有;苏虹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 互连 金属 特征 填充 | ||
1.一种用于至少部分地填充基底中的特征部的方法,所述方法包括:
提供包括特征部的基底;
沉积Ru金属层以至少部分地填充所述特征部;
热处理所述基底以使所述特征部中的所述Ru金属层回流;
在所述特征部中的经热处理的Ru金属层上沉积另外的Ru金属层;和
热处理所述另外的Ru金属层以使所述特征部中的所述另外的Ru金属层回流,
其中所述热处理的步骤均在200℃至600℃之间的第二基底温度下进行。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
在沉积所述Ru金属层之前,在所述特征部中形成成核层。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述成核层是不完整的,具有在凹陷的特征部中暴露所述基底的间隙。
4.根据权利要求2所述的方法,其中所述成核层选自Mo、MoN、Ta、TaN、W、WN、Ti和TiN。
5.根据权利要求1所述的方法,还包括
在沉积所述Ru金属层之前,将所述基底暴露于提高所述特征部中的所述Ru金属层的成核速率的处理气体。
6.根据权利要求5所述的方法,其中所述处理气体包括氮。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述Ru金属层通过原子层沉积ALD、化学气相沉积CVD、镀覆或溅射来沉积。
8.根据权利要求7所述的方法,其中所述Ru金属层通过使用Ru3(CO)12和CO载气的化学气相沉积CVD来沉积。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述基底包括介电层,所述特征部形成在所述介电层中。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述热处理在Ar气、H2气、Ar气和H2气、或H2气和N2气的存在下进行。
11.根据权利要求1所述的方法,其中所述Ru金属层在第一基底温度下沉积,所述第二基底温度大于所述第一基底温度。
12.根据权利要求1所述的方法,其中沉积所述Ru金属层使得所述特征部在被所述Ru金属层填充之前夹断所述特征部的开口,从而在所述特征部内形成空隙,所述方法还包括,在所述热处理之前,从所述特征部上方除去导致所述夹断的过量Ru金属。
13.一种用于填充基底中的特征部的方法,所述方法包括:
提供包括特征部的基底;
沉积填充所述特征部的共形Ru金属层;
热处理所述基底以使所述特征部中的所述共形Ru金属层回流;
在所述特征部中的经热处理的Ru金属层上沉积另外的Ru金属层;和
热处理所述另外的Ru金属层以使所述特征部中的所述另外的Ru金属层回流,
其中所述共形Ru金属层具有在所述特征部中的接缝空隙,所述热处理将所述接缝空隙密封并增加所述特征部中的所述共形Ru金属层的晶粒尺寸,
其中所述热处理的步骤均在200℃至600℃之间的第二基底温度下进行。
14.根据权利要求13所述的方法,其中所述基底包括介电层,所述特征部形成在所述介电层中。
15.根据权利要求13所述的方法,其中所述共形Ru金属层在第一基底温度下沉积,所述第二基底温度大于所述第一基底温度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造