[发明专利]多个发射天线的相位校准设备

权利要求书

1.一种相位校准设备，包括：

多个发射天线(3a-3h、403a-403f、603a-603h)，所述多个发射天线(3a-3h、403a-403f、603a-603h)被设置为使得能够使用波束形成技术来改变发射波的方向，所述多个发射天线包括第一发射天线(3a、403b、603a)以及与所述第一发射天线不同的第二发射天线(3b、403c、603b)；

第一集成电路(2a、202a、402a、502a)，所述第一集成电路在接收到参考信号后使用所述参考信号来输出用于生成所述第一发射天线的发射波的发射信号；

第二集成电路(2b、202b、402b、402c、502b)，所述第二集成电路连接到所述第一集成电路，从所述第一集成电路接收参考信号，并且输出用于生成所述第二发射天线的发射波的发射信号；

校准接收天线(4、204、304、404a、404b、504、604、704)，所述校准接收天线被设置为当接收所述第一发射天线和所述第二发射天线的发射波时处于电耦合量在理论上相同的状态；

接收电路(5)，所述接收电路从所述校准接收天线获取接收信号；以及

控制电路(6)，所述控制电路基于所述接收电路的所述接收信号的振幅来校准所述发射信号的相位，其中，所述接收电路的所述接收信号的所述振幅在所述第一集成电路和所述第二集成电路向所述第一发射天线和所述第二发射天线输出所述发射信号时响应于所述发射信号之间的相位差的变化而变化。

2.根据权利要求1所述的相位校准设备，其中，

所述校准接收天线被设置在距所述第一发射天线和所述第二发射天线相等距离处。

3.根据权利要求1所述的相位校准设备，其中，

所述校准接收天线被设置在所述第一发射天线与所述第二发射天线之间的面对区域外部的区域中。

4.根据权利要求1所述的相位校准设备，其中，

所述校准接收天线被设置在所述多个发射天线的面对区域中。

5.根据权利要求1所述的相位校准设备，其中，

通过由微带线(13a、13b、613a、613b、713a、713b)连接一个或多个贴片天线(12a、12b、612a、612b、712a、712b)来配置所述多个发射天线中的每一个发射天线。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的相位校准设备，其中，

所述控制电路针对每个预定步长改变从所述第一集成电路和所述第二集成电路输出的所述发射信号的相位差，以允许从所述第一发射天线和所述第二发射天线输出所述发射波，检测所述接收电路的所述接收信号的所述振幅变为最大时的相位，并且使用检测到的相位来设定校准相位。

7.根据权利要求6所述的相位校准设备，其中，

当在从初始值到所述初始值加上360°的范围内改变所述相位差时，所述控制电路检测所述接收电路的所述接收信号的所述振幅变为最大时的相位，并且所述控制电路使用检测到的相位来设定校准相位。

8.根据权利要求6所述的相位校准设备，其中，

当在从初始值到所述初始值加上180°的范围内改变所述相位差时，所述控制电路检测所述接收电路的所述接收信号的所述振幅变为最大值或最小值时的相位；当检测到满足最大值条件的相位时，所述控制电路使用满足所述最大值条件的所述相位来设定校准相位；并且当检测到满足最小值条件的相位时，所述控制电路使用通过将满足所述最小值条件的所述相位加上180°而获得的相位来设定校准相位。

9.根据权利要求6所述的相位校准设备，其中，

当针对每个预定步长从初始值开始改变从所述第一集成电路和所述第二集成电路输出的所述发射信号的所述相位差时，所述控制电路检测所述接收电路的所述接收信号的所述振幅变为最大值或最小值时的相位；当检测到满足最大值条件的相位时，所述控制电路使用满足所述最大值条件的所述相位来设定校准相位；并且当检测到满足最小值条件的相位时，所述控制电路使用通过将满足所述最小值条件的所述相位加上180°而获得的相位来设定校准相位。

10.根据权利要求1-5中任一项所述的相位校准设备，其中，

所述第一集成电路和所述第二集成电路中的每一个集成电路输出通过FMCW系统修改的发射信号。

11.根据权利要求1-5中任一项所述的相位校准设备，其中，

所述校准接收天线也用作目标检测天线。