[发明专利]一种获取器件功能模块单粒子本征错误截面的方法

权利要求书

1.一种获取器件功能模块单粒子本征错误截面的方法，其特征在于包括如下步骤：

(1)将器件功能模块分为结构规则功能模块和结构不规则功能模块两类；

(2)直接利用脉冲激光试验获取结构规则功能模块的本征错误截面；

(3)编制n种测试程序，通过重离子试验，获取器件执行上述各种测试程序时的应用错误截面，其中n＝结构不规则功能模块的个数；

(4)分析每种测试程序下，器件各个功能模块的占空因子；

(5)根据不同测试程序下器件的应用错误截面公式计算结构不规则功能模块的本征错误截面；

计算方法为：

(5.1)第j种测试程序下，器件的应用错误截面公式为σ_Aj＝∑σ_ijf_ij，其中f_ij是第i个功能模块的占空因子，σ_ij是第i个功能模块的本征错误截面，j∈[1,n]；

(5.2)将n种测试程序对应的器件应用错误截面公式进行方程组联立求解，得到结构不规则功能模块的本征错误截面。

2.根据权利要求1所述的一种获取器件功能模块单粒子本征错误截面的方法，其特征在于：所述步骤(4)的实现方法为：

(3.1)执行n种测试程序，得到每种测试程序的执行时间；

(3.2)从器件的使用手册中找到不同指令所占用的使用周期；

(3.3)通过分析每种测试程序执行指令时调用的功能模块，并结合(3.2)中不同指令的使用周期得到第i个功能模块在第j种测试程序中的累计占空周期T_ij；

(3.4)第i个功能模块在第j种测试程序中的占空因子＝累计占空周期T_ij/第j种测试程序执行时间。