[发明专利]一种感光芯片测试设备在审

专利信息
申请号: 201710293627.4 申请日: 2017-04-28
公开(公告)号: CN106896315A 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 胡依光;刘健康 申请(专利权)人: 上海捷策创电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 张海英,林波
地址: 201203 上海市浦东新区中国(上海)自*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 感光 芯片 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种感光芯片测试设备,其特征在于,包括:

上盖,其包括上盖本体和从上到下依次设置于所述上盖本体内的光源、滤光片和压板,所述压板的下端面设置有凸出于所述压板端面的触发部;

底座,其包括底座本体,所述底座本体上设置有放置感光芯片的芯片槽,所述芯片槽内设置有探针;

卡钩,测试时所述上盖与所述底座通过所述卡钩卡合,所述上盖的卡合面设置有第一密封凸起,所述底座的卡合面设置有与所述第一密封凸起相配合的第一密封凹槽,卡合后,所述第一密封凸起和第一密封凹槽配合形成第一密封部,此外,所述触发部抵压所述芯片槽内的感光芯片,所述感光芯片压缩所述探针,从而形成测试回路。

2.根据权利要求1所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述上盖还包括上壳和下壳,所述上盖本体为上下开口的中空腔体,所述上壳密封于所述上盖本体的上开口处,所述下壳设置于所述上盖本体的下开口处。

3.根据权利要求2所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述下壳中部设置有安装孔,所述安装孔的边缘向所述上盖本体方向延伸形成定位部,所述定位部卡入所述上盖本体的下开口中,所述触发部通过所述安装孔向所述底座方向伸出。

4.根据权利要求2所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述上壳的下端面设置有第二密封凸起,所述上盖本体的上端面设置有与所述第二密封凸起相适配的第二密封凹槽,第二密封凸起和第二密封凹槽配合形成第二密封部。

5.根据权利要求1所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述光源下端面与所述压板上端面之间设置有弹簧,所述压板上端面设置有容纳所述滤光片的容纳槽,所述容纳槽内位于所述滤光片下方处设置有控制板,所述控制板上设置有透光孔。

6.根据权利要求1所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述底座还包括上座和下座,所述上座设置于所述底座本体的上端面上,所述下座设置于所述底座本体的下端面,所述芯片槽设置于所述上座上。

7.根据权利要求6所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述底座本体与所述下座之间设置有电路板,所述电路板和底座本体上正对所述芯片槽的位置设置有探针孔,所述探针位于该探针孔内。

8.根据权利要求1所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述卡钩中部与所述上盖本体可转动连接。

9.根据权利要求8所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述卡钩中部设置有第一导向孔,所述上盖本体上设置有与所述第一导向孔相对应的第二导向孔,转动轴穿过所述第一导向孔和第二导向孔后将所述卡钩与所述上盖本体可转动连接。

10.根据权利要求9所述的感光芯片测试设备,其特征在于,所述上盖上设置有与所述卡钩上端相卡合的第一卡合部,所述底座本体上设置有与所述卡钩下端相卡合的第二卡合部。

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