[发明专利]确定岩层Biot系数的方法及装置有效
申请号: | 201710545466.3 | 申请日: | 2017-07-06 |
公开(公告)号: | CN107367763B | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 袁世洪;万忠宏;杨平;高慧欣;张红静;左红光 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司 |
主分类号: | G01V1/50 | 分类号: | G01V1/50 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;刘飞 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 岩层 biot 系数 方法 装置 | ||
1.一种确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,包括:
根据岩层的测井曲线,确定所述岩层的饱和岩石P波模量、饱和岩石剪切模量、流体体积模量和流体密度;
根据所述流体体积模量和所述流体密度确定所述岩层的矿物P波模量;
根据所述饱和岩石P波模量、所述饱和岩石剪切模量、所述流体体积模量和所述矿物P波模量,确定所述岩层的Biot系数;其中,
所述根据所述饱和岩石P波模量、所述饱和岩石剪切模量、所述流体体积模量和所述矿物P波模量,确定所述岩层的Biot系数,包括:
根据公式aβ2+bβ+c=0确定所述岩层的Biot系数;
其中,β为岩层的Biot系数,a=A+B,b=AC-D,c=AD,Ms岩层的饱和岩石P波模量,Mm岩层的矿物P波模量,μd为岩层的岩石骨架剪切模量,μd由岩层的饱和岩石剪切模量替换,Kf为岩层的流体体积模量,φ为岩层的岩石孔隙度。
2.如权利要求1所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述测井曲线包括岩层的深度测井曲线、纵波波速测井曲线、横波波速测井曲线、密度测井曲线、岩石孔隙度测井曲线和含水饱和度测井曲线。
3.如权利要求2所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据岩层的测井曲线确定所述岩层的饱和岩石P波模量,包括:
根据公式确定所述岩层的饱和岩石P波模量;
其中,Ms为岩层的饱和岩石P波模量,ρs为岩层的饱和岩石密度,Vps为岩层的饱和岩石纵波波速。
4.如权利要求2所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据岩层的测井曲线确定所述岩层的饱和岩石剪切模量,包括:
根据公式确定所述岩层的饱和岩石剪切模量;
其中,μs为岩层的饱和岩石剪切模量,ρs为岩层的饱和岩石密度,Vss为岩层的饱和岩石横波波速。
5.如权利要求2所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据岩层的测井曲线确定所述岩层的流体体积模量,包括:
根据公式确定所述岩层的流体体积模量;
其中,Kf为岩层的流体体积模量,Ki为岩层中第i种流体的体积模量,Pi为岩层中第i种流体的体积含量,N为岩层中所包含的流体种数。
6.如权利要求2所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据岩层的测井曲线确定所述岩层的流体密度,包括:
根据公式确定所述岩层的流体密度;
其中,ρf为岩层的流体密度,Pi为岩层中第i种流体的体积含量,ρi为岩层中第i种流体的密度,N为岩层中所包含的流体种数。
7.如权利要求6所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据所述流体体积模量和所述流体密度确定所述岩层的矿物P波模量,包括:
根据所述流体体积模量和所述流体密度,确定所述岩层的流体纵波波速;并根据所述流体密度确定所述岩层的矿物密度;
根据所述流体纵波波速确定所述岩层的矿物纵波波速;
根据所述矿物纵波波速和所述矿物密度,确定所述岩层的矿物P波模量。
8.如权利要求7所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据所述流体体积模量和所述流体密度,确定所述岩层的流体纵波波速,包括:
根据公式确定所述岩层的流体纵波波速;
其中,Vf为岩层的流体纵波波速,Kf为岩层的流体体积模量,ρf为岩层的流体密度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司,未经中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710545466.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型车辆插座电磁锁
- 下一篇:一种多功能灯座