[发明专利]确定岩层Biot系数的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710545466.3 申请日: 2017-07-06
公开(公告)号: CN107367763B 公开(公告)日: 2019-06-11
发明(设计)人: 袁世洪;万忠宏;杨平;高慧欣;张红静;左红光 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/50 分类号: G01V1/50
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;刘飞
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 确定 岩层 biot 系数 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,包括:

根据岩层的测井曲线,确定所述岩层的饱和岩石P波模量、饱和岩石剪切模量、流体体积模量和流体密度;

根据所述流体体积模量和所述流体密度确定所述岩层的矿物P波模量;

根据所述饱和岩石P波模量、所述饱和岩石剪切模量、所述流体体积模量和所述矿物P波模量,确定所述岩层的Biot系数;其中,

所述根据所述饱和岩石P波模量、所述饱和岩石剪切模量、所述流体体积模量和所述矿物P波模量,确定所述岩层的Biot系数,包括:

根据公式aβ2+bβ+c=0确定所述岩层的Biot系数;

其中,β为岩层的Biot系数,a=A+B,b=AC-D,c=AD,Ms岩层的饱和岩石P波模量,Mm岩层的矿物P波模量,μd为岩层的岩石骨架剪切模量,μd由岩层的饱和岩石剪切模量替换,Kf为岩层的流体体积模量,φ为岩层的岩石孔隙度。

2.如权利要求1所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述测井曲线包括岩层的深度测井曲线、纵波波速测井曲线、横波波速测井曲线、密度测井曲线、岩石孔隙度测井曲线和含水饱和度测井曲线。

3.如权利要求2所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据岩层的测井曲线确定所述岩层的饱和岩石P波模量,包括:

根据公式确定所述岩层的饱和岩石P波模量;

其中,Ms为岩层的饱和岩石P波模量,ρs为岩层的饱和岩石密度,Vps为岩层的饱和岩石纵波波速。

4.如权利要求2所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据岩层的测井曲线确定所述岩层的饱和岩石剪切模量,包括:

根据公式确定所述岩层的饱和岩石剪切模量;

其中,μs为岩层的饱和岩石剪切模量,ρs为岩层的饱和岩石密度,Vss为岩层的饱和岩石横波波速。

5.如权利要求2所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据岩层的测井曲线确定所述岩层的流体体积模量,包括:

根据公式确定所述岩层的流体体积模量;

其中,Kf为岩层的流体体积模量,Ki为岩层中第i种流体的体积模量,Pi为岩层中第i种流体的体积含量,N为岩层中所包含的流体种数。

6.如权利要求2所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据岩层的测井曲线确定所述岩层的流体密度,包括:

根据公式确定所述岩层的流体密度;

其中,ρf为岩层的流体密度,Pi为岩层中第i种流体的体积含量,ρi为岩层中第i种流体的密度,N为岩层中所包含的流体种数。

7.如权利要求6所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据所述流体体积模量和所述流体密度确定所述岩层的矿物P波模量,包括:

根据所述流体体积模量和所述流体密度,确定所述岩层的流体纵波波速;并根据所述流体密度确定所述岩层的矿物密度;

根据所述流体纵波波速确定所述岩层的矿物纵波波速;

根据所述矿物纵波波速和所述矿物密度,确定所述岩层的矿物P波模量。

8.如权利要求7所述的确定岩层Biot系数的方法,其特征在于,所述根据所述流体体积模量和所述流体密度,确定所述岩层的流体纵波波速,包括:

根据公式确定所述岩层的流体纵波波速;

其中,Vf为岩层的流体纵波波速,Kf为岩层的流体体积模量,ρf为岩层的流体密度。

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