[发明专利]一种晶硅太阳能电池处理方法在审

专利信息
申请号: 201710940827.4 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN107731959A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 奚明;吴红星;戴虹;吴堃;夏马来 申请(专利权)人: 理想晶延半导体设备(上海)有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙)31286 代理人: 黄海霞
地址: 201620 上海市松*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 太阳能电池 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种晶硅太阳能电池处理设备的处理方法,其特征在于,包括:

将预处理腔室的待处理基板进行氧化处理;

将氧化处理后的基板传输至镀膜沉积腔室中;

在所述镀膜沉积腔室中对所述基板进行镀膜沉积。

2.如权利要求1所述的处理方法,其特征在于,所述预处理腔室氧化处理过程保持真空状态,或所述预处理腔室氧化处理过程保持非真空状态。

3.如权利要求2所述的处理方法,其特征在于,所述预处理腔室氧化处理过程保持真空状态,是先将所述待处理的基板传输至装载腔室中,打开蝶阀控制单元,对所述装载腔室抽真空,其次将所述基板传输至所述预处理腔室中,在所述预处理腔室中进行加热,然后打开气流控制单元,通入气体源以生成氧化硅薄膜,然后将所述待处理的基板传输至镀膜沉积腔中,在所述镀膜沉积腔对所述基板进行镀膜沉积。

4.如权利要求3所述的处理方法,其特征在于,所述的气体源为O3或N2或O2或惰性气体,所述惰性气体起稀释作用,所述惰性气体为N2。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述气体源O3、N2O、O2中的一种或多种气体的通入量为200sccm-5000sccm,同时通入所述惰性气体N2。

6.如权利要求5所述的处理方法,其特征在于,所述预处理腔室的加热温度是100℃-600℃。

7.如权利要求6所述的处理方法,其特征在于,所述气体源的通入时间是10s-600s。

8.如权利要求7所述的处理方法,其特征在于,所述氧化硅薄膜的厚度是3nm-30nm。

9.如权利要求2所述的处理方法,其特征在于,所述预处理腔室氧化处理过程保持非真空状态,是先将所述基板传输至所述装载腔室,打开蝶阀控制单元,对所述装载腔室抽真空,其次将所述基板传输至预处理腔室进行充气升压,然后将待处理基板加热,打开气流控制单元通入气体源进行氧化处理,生成氧化硅薄膜,完成后对预处理腔体抽真空,再次将所述待处理的基板传输至镀膜沉积腔中,在所述镀膜沉积腔对所述基板进行镀膜沉积。

10.如权利要求9所述的处理方法,其特征在于,所述的气体源为O3或O2或N2O或惰性气体,所述惰性气体起稀释作用,所述惰性气体为N2。

11.如权利要求10所述的处理方法,其特征在于,所述气体源O3、N2O、O2中的一种或多种气体的通入量为500sccm-5000sccm。

12.如权利要求11所述的处理方法,其特征在于,所述预处理腔室的加热温度是100℃-600℃。

13.如权利要求12所述的处理方法,其特征在于,所述气体源的通入时间是10s-600s。

14.如权利要求13所述的处理方法,其特征在于,所述氧化硅薄膜的厚度是3nm-30nm。

15.如权利要求8、14所述的处理方法,其特征在于,所述镀膜沉积腔包括正面减反膜沉积腔,所述减反膜为氮化硅膜或氮氧化硅膜与氮化硅膜所构成的双层膜。

16.如权利要求8、14所述的处理方法,其特征在于,所述镀膜沉积腔包括钝化膜沉积腔、背面减反膜沉积腔或正面减反膜沉积腔中的一种或多种。

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