[发明专利]一种多路径高压摆率环路运放电路及其实现方法有效
申请号: | 201711114417.0 | 申请日: | 2017-11-13 |
公开(公告)号: | CN107807707B | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 吴建辉;王鹏;孙杰;李红;包天罡;王甫锋 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 葛潇敏 |
地址: | 210032 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 路径 高压 环路 电路 及其 实现 方法 | ||
本发明公开一种多路径高压摆率环路运放电路的实现方法,包括三极级联反向器;添加一辅助路径,在环路运放抽取的过程中,辅助路径工作,增加压摆率;在小信号建立过程中,辅助路径停止工作,避免产生大的过冲。本发明还公开一种多路径高压摆率环路运放电路,包括三级级联反向器;还包括一个带偏置的反向器,所述带偏置的反向器与三级级联反向器连接。此种技术方案通过添加辅助路径,提高环路运放的压摆率,同时不影响环路运放的稳定性。
技术领域
本发明属于高精度运放设计技术领域,特别涉及一种环路运放提高压摆率的电路结构及其实现方法。
背景技术
随着集成电路工艺尺寸的逐渐缩减,MOS管的本征增益下降,同时,电源电压降低,使得高增益运放的设计越来越困难;此外,传统运放大多具有相当高的功耗,这也限制了其应用范围。
环路运放由Benjamin Hershberg在2012年首次提出,应用在pipeline模数转换器中,在0.18nm工艺下获得采样率20MHz,SNDR76.8dB,功耗5.1mw的优异性能指标。环路运放的功耗低,结构简单,易于尺寸缩减。
环路运放的稳定性与其最后一级反相器的过充电流有关,过充电流越小,运放越容易稳定,作为代价,抽取阶段的电流会减小,从而降低了运放的建立速度。
为了实现环路运放的稳定,需要减小过冲电压,一般通过减小过冲电流实现,与此同时,抽取电流也会减小,从而减小了压摆率,影响了电路的建立速度。
发明内容
本发明的目的,在于提供一种多路径高压摆率环路运放电路及其实现方法,通过添加辅助路径,提高环路运放的压摆率,同时不影响环路运放的稳定性。
为了达成上述目的,本发明的解决方案是:
一种多路径高压摆率环路运放电路的实现方法,包括三级级联反向器;添加一辅助路径,在环路运放抽取的过程中,辅助路径工作,增加压摆率;在小信号建立过程中,辅助路径停止工作,避免产生大的过冲。
一种多路径高压摆率环路运放电路,包括三级级联反向器;还包括一个带偏置的反向器,所述带偏置的反向器与三级级联反向器连接。
上述三级级联反向器包括第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管、第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管和电阻,其中,第一NMOS管的栅极与第一PMOS管的栅极连接,并共同作为运放电路的输入端,第一NMOS管的漏极与第一PMOS管的漏极连接,第一NMOS管的源极连接VSS,第一PMOS管的源极连接VDD;第二NMOS管的栅极和第二PMOS管的栅极连接,并共同连接第一NMOS管的漏极,第二NMOS管的漏极和第二PMOS管的漏极之间连接电阻,第二NMOS管的源极连接VSS,第二PMOS管的源极连接VDD;第三NMOS管的栅极连接第二NMOS管的漏极,第三PMOS管的栅极连接第二PMOS管的漏极,第三NMOS管的源极连接VSS,第三PMOS管的源极连接VDD,第三NMOS管的漏极与第三PMOS管的漏极连接,并共同作为运放电路的输出端。
上述带偏置的反向器包括第五PMOS管、第五NMOS管、第六PMOS管、第六NMOS管、第一电容和第二电容,其中,第五PMOS管的栅极与第六PMOS管的漏极连接,并共同连接第一电容的一端,第一电容的另一端连接第二PMOS管的漏极,第五PMOS管的源极与第六PMOS管的源极均连接VDD,第五PMOS管的漏极连接运放电路的输出端,第六PMOS管的栅极连接第一复位时钟信号;第五NMOS管的栅极与第六NMOS管的漏极连接,并共同连接第二电容的一端,第二电容的另一端连接第二NMOS管的漏极,第五NMOS管的源极与第六NMOS管的源极均连接VSS,第五NMOS管的漏极连接运放电路的输出端,第六NMOS管NM6的栅极连接第二复位时钟信号,其中,第一、第二复位时钟信号为相反信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711114417.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。