[发明专利]一种保偏光纤拍长的测量方法

说明书

本发明公开了一种基于保偏光纤拍长测量装置的测量方法，其特征在于，包括宽谱光源、光纤起偏器、频谱仪和计算机，宽谱光源经过光纤起偏器进入待测高双折射保偏光纤，待测高双折射保偏光纤信号输出端连接有检偏器，待测高双折射保偏光纤和检偏器共同组成了一个马赫曾德干涉仪，马赫曾德干涉仪信号输出端有电光调制器,电光调制器上的光载微波信号经过色散光纤后入射到高速光电探测器上，高速光电探测器将光信号装换成微波信号并通过低噪放放大，低噪放输出端连接微波功分器；本发明具有处理量大、方便实用等特点。

技术领域

本发明涉及保偏光纤拍长的测量领域，具体为一种保偏光纤拍长的测量方法。

背景技术

保偏光纤传输线偏振光，广泛用于航天、航空、航海、工业制造技术及通信等过民经济的各个领域。在以光学相干检测为基础的干涉型光纤传感器中，使用保偏光纤能够保证线偏振方向不变，提高相干信噪比，以实现对物理量的高精度测量。保偏光纤作为一种特种光纤，主要应用于光纤陀螺，光纤水听器等传感器和DWDM、EDFA等光纤通信系统。

高双折射保偏光纤在光纤陀螺，光纤电流互感器和保偏光器件等领域有广泛的应用。在这些应用中，保偏光纤的保偏性能是决定其应用的关键，一般用拍长来衡量保偏光纤的保偏性能。它反映的就是保偏光纤两偏振本征轴折射率差的大小，即保偏光纤双折射。

偏光纤拍长的测量主要有扭转法、压力法、电光或磁光调制法、光偏振法、剪断法、偏振模色散法、棱镜耦合法、瑞利散射法、波长扫描法、光频域反射计等方法。保偏光纤在拉制过程中，由于光纤内部产生的结构缺陷会造成保偏性能的下降,本发明提供一种保偏光纤拍长的测量装置。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有保偏光纤在工作过程中，保偏性能难以检测的缺陷，提供一种保偏光纤拍长的测量装置，从而解决上述问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案：

本发明一种保偏光纤拍长的测量装置，包括包括宽谱光源、光纤起偏器、频谱仪和计算机，宽谱光源经过光纤起偏器进入待测高双折射保偏光纤，待测高双折射保偏光纤末端连接有检偏器，检偏器信号输出端有电光调制器电光调制器上的光载微波信号经过色散光纤后入射到高速光电探测器上，高速光电探测器上的微波信号通过低噪放放大后经过一个微波功分器后，一部分微波信号注入到电光调制器中，一部分微波信号经过频谱仪到达计算机。

作为本发明的一种优选技术方案，待测高双折射保偏光纤与光纤起偏器采用熔接的方式连接,熔接角度为45°，使其连接处非常紧密结实，不会出现空隙。

作为本发明的一种优选技术方案，电光调制器、色散光纤、高速光电探测器、低噪放和微波功分器组成光电振荡器，将光信号变微波信号，使其得以数据化，有利于分析计算和循环使用。

作为本发明的一种优选技术方案，宽谱光源可采用高斯型或矩形光源作为发射光源，使得发射光源的选择性更高。

本发明所达到的有益效果是：本发明为一种保偏光纤拍长的测量装置，通过待测高双折射保偏光纤和检偏器共同组成了一个马赫曾德干涉仪，使得宽谱光源经该干涉仪后，当干涉仪两臂光程差在光源相干范围内时，在干涉仪的输出端将产生干涉条纹，该干涉条纹在频域上为一正弦梳状谱；利用熔接，将待测高双折射保偏光纤与光纤起偏器紧紧连接，使其不会出现空隙，同时也是非常稳固；不会出现组装繁琐、容易脱落、连接不稳、美观度差的问题。通过电光调制器，色散光纤，高速光电探测器，低噪放和微波功分器构成光电振荡器环路，将光信号装换成微波信号并测量输出微波信号的中心频率，使其得以大数据化，大大节约了人力物力和时间，提高了准确度。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。

在附图中：