[发明专利]基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法有效
申请号: | 201711340849.3 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108106582B | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | 李宗杰;魏华动;杨威;侯海龙;韩晓莹;沈向存;林新;李玉兰;房晓璐;胡小菊 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02;G01B21/32 |
代理公司: | 11276 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 宋菲;刘云贵 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 断层 构造活动 断裂 断裂的 滑移 位移计算 变形量 构造线 位移量 盘基 下盘 测量 分量计算 规模开发 滑脱 盘滑 钻探 卷入 储量 参考 | ||
1.一种基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移量计算方法,其包括:
确定主构造轴线;
垂直于主构造轴线分别测量走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi、走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi′、走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni、以及走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni′;
垂直于主构造轴线分别测量出走滑断裂第i组断层左盘滑脱断层的变形量Mi、以及走滑断裂第i组断层右盘滑脱断层的变形量Mi′;
计算走滑断裂第i组断层左盘基底构造上盘构造线与主滑移带的夹角,走滑断裂第i组断层右盘基底构造上盘构造线与主滑移带的夹角,走滑断裂第i组断层左盘基底构造下盘构造线与主滑移带的夹角,走滑断裂第i组断层右盘滑脱层主滑移带下盘构造线与主滑移带的夹角,上覆走滑断裂第i组断层左盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角,以及上覆走滑断裂第i组断层右盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角;
分别计算Lupi、Lupi′、Ldowni、Ldowni′、Mi、以及Mi′在所述主滑移带的分量LupΦsi、LupΦsi′、LdownΦxi、LdownΦxi′、MΦMi及MΦMi′;
根据LupΦsi、LupΦsi′、LdownΦxi、LdownΦxi′、MΦMi及MΦMi′计算走滑断裂的走滑位移量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据LupΦsi、LupΦsi′、LdownΦxi、LdownΦxi′、MΦMi及MΦMi′计算走滑断裂的走滑位移量具体包括:
根据以下公式计算走滑断裂的走滑位移量:
其中,w为走滑断裂的走滑位移量,i为走滑断裂第i组断层,i为大于或等于1的整数,n为大于或等于1的整数,且n为走滑断裂断层组数。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述确定主构造轴线进一步包括:
对走滑断裂上盘主要标志层以及走滑断裂下盘主要标志层进行追踪;
根据追踪的所述走滑断裂上盘主要标志层以及走滑断裂下盘主要标志层的层位以及走滑断裂的断层构造特征确定主构造轴线。
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