[实用新型]一种开壳检测电路

权利要求书

1.一种开壳检测电路，其特征在于：包括单片机U1、在外壳被打开时闭合的常闭式开关S1、用于光线检测的光敏器件电路和检测电路，所述常闭式开关并联检测电路，所述光敏器件电路连接检测电路，所述检测电路连接单片机U1。

2.根据权利要求1所述的开壳检测电路，其特征在于：所述检测电路包括MOS管Q1、三极管Q2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、二极管D1、二极管D2、二极管D3和二极管D5，所述常闭式开关S1并联连接MOS管Q1，所述MOS管Q1的源极连接常闭式开关S1一端并与第一电源VCC连接，所述MOS管Q1的漏极与常闭式开关S1另一端连接并分别与二极管D1和电阻R1一端连接，所述电源R1另一端连接电阻R2并连接单片机U1的第2脚，所述电阻R2另一端接地，所述二极管D2与二极管D3和二极管D5串联，所述二极管D2另一端连接第二电源V1，所述二极管D5另一端连接二极管D1并连接第三电源VDD和单片机U1的第1脚，所述MOS管Q1的栅极连接三极管Q2的集电极，所述三极管Q2的发射极接地，所述三极管Q2的基极连接电阻R3，所述电阻R3另一端连接电阻R4并连接单片机U1的第3脚，所述电阻R4的另一端接地。

3.根据权利要求2所述的开壳检测电路，其特征在于：所述MOS管Q1为PMOS管，所述三极管Q2为NPN型。

4.根据权利要求1所述的开壳检测电路，其特征在于：所述光敏器件电路包括光敏电阻R7、电阻R5、电阻R6和电阻R8，所述电阻R5和电阻R6并联并且连接三极管Q2的集电极，所述电阻R6一端连接电阻R8，另一端连接光敏电阻R7，所述电阻R8另一端连接MOS管Q1的源极，所述光敏电阻R7另一端接地。

5.根据权利要求1所述的开壳检测电路，其特征在于：还包括发光二极管D4、电阻R9、电阻R10和电阻R11，所述发光二极管D4一端与第四电源V2连接，另一端与电阻R9串联，所述电阻R9另一端连接单片机U1的第7脚；所述电阻R10一端与电阻R11一端连接并连接第四电源V2，所述电阻R10另一端连接单片机U1的第6脚，所述电阻R11另一端连接单片机U1的第5脚，所述单片机U1的第8脚接地。

6.根据权利要求1所述的开壳检测电路，其特征在于：还包括连接器J1，所述连接器J1包括5个引脚，所述连接器J1的第1引脚连接电阻R12并连接到单片机U1的第4脚，所述电阻R5另一端连接第三电源VDD，所述连接器J1的第2引脚连接电压VDD，所述连接器的第3引脚连接地，所述连接器J1的第4引脚连接单片机U1的第7脚，所述连接器J1的第5引脚连接单片机的第6脚。

7.根据权利要求1所述的开壳检测电路，其特征在于：所述单片机U1连接有供电电路，所述供电电路输入为第三电源VDD，供电电路输入端连接有进行充放电的电容C1，所述电容C1另一端接地。

8.根据权利要求1所述的开壳检测电路，其特征在于：所述单片机U1的第5脚和第6脚分别与服务器连接，用于传输数据。