[发明专利]红外线检测器以及辐射温度计在审
申请号: | 201780041592.3 | 申请日: | 2017-04-05 |
公开(公告)号: | CN109416277A | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 藤野翔 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场制作所 |
主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02;G01J1/06;G01J5/06;G01J5/12 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 崔迎宾;李雪春 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外线传感器 镜筒 红外线 光圈 导入口 基端 辐射温度计 红外线检测器 温度测量误差 红外线吸收 反射结构 方式配置 镜筒内部 温度测量 对置 分隔 入射 配置 | ||
本发明为了提供防止从镜筒或配置在镜筒内部的部件发出的红外线入射到红外线传感器,减少由于自身红外线引起的温度测量误差,即使在周围环境温度变化大的情况下也能够高精度地进行温度测量的辐射温度计,具备:镜筒(1),在前端侧形成有红外线导入口(11);红外线传感器(3),在所述镜筒(1)内以与所述红外线导入口(11)对置的方式配置在基端侧;第一光圈(21),设置成在所述镜筒(1)内分隔所述红外线导入口(11)与所述红外线传感器(3)之间;红外线吸收结构(4),设置在所述镜筒(1)中的基端侧的内部端面的至少一部分或者所述红外线传感器(3)的外表面的至少一部分;以及反射结构(5),设置在所述镜筒(1)内相比所述第一光圈(21)靠基端侧的内侧周面的至少一部分或者所述第一光圈(21)中的所述红外线传感器(3)侧的至少一部分。
技术领域
本发明涉及接收从测量对象物辐射(放射)的红外线,将其转换成电信号并输出的红外线检测器以及使用了红外线检测器的各种设备。
背景技术
用于辐射温度计的红外线检测器具有顶端开口的镜筒和配置在该镜筒的底部的红外线传感器,构成为利用红外线传感器接收从测量对象物辐射并从镜筒的顶端开口进入到内部的红外线。
此时,杂散光成为噪声的原因。杂散光是从外部经所述镜筒的顶端的开口侵入到镜筒内,并在镜筒内反射等而被取入到红外线传感器的红外线。
为了使得这样的杂散光不入射到所述红外线传感器,如专利文献1等所示,构成为对镜筒的内侧周面、光圈进行黑化处理,利用镜筒的内侧面、光圈等吸收入射的杂散光。
然而,以往的辐射温度计多是在满足自身的温度保持大致恒定的前提条件下使用,但是近年来,希望在周围温度环境变化较大的现场也能够使用辐射温度计。
但是,在这样的使用环境中,由于构成辐射温度计的红外线检测器本身的温度变动,从镜筒的内侧面等中为了吸收杂散光而被黑化处理的部分等辐射的红外线(以下,也称为自身红外线。)的强度无法保持恒定。如果这样的强度变化的自身红外线入射到所述红外线传感器,则可能会产生测量温度漂移的问题。
专利文献1:日本专利公开公报特开2010―133869号
发明内容
本发明是鉴于上述问题而提出的,其目的在于提供能够防止从镜筒或配置在镜筒内部的部件发出的红外线入射到红外线传感器的红外线检测器。
即,本发明的红外线检测器的特征在于,具备:镜筒,在前端侧形成有红外线导入口;第一光圈,设置成将所述镜筒内分隔成前端侧和基端侧;红外线传感器,配置在所述镜筒内相比所述第一光圈靠基端侧的位置;红外线吸收结构,设置在所述镜筒中的基端侧的内部端面的至少一部分或者所述红外线传感器的外表面的至少一部分;以及反射结构,设置在所述镜筒内相比所述第一光圈靠基端侧的内侧周面的至少一部分或者所述第一光圈中的所述红外线传感器侧的至少一部分。
此处,红外线吸收结构是指构成为吸收的红外线的量比反射的红外线的量多的结构。另外,反射结构是指构成为反射的红外线的量比吸收的红外线的量多的结构。此外,所述红外线吸收结构可以设置在所述镜筒中的基端侧的内部端面或者所述红外线传感器的外表面的任意一方或者双方。另外,所述反射结构也可以设置在例如所述镜筒内相比所述第一光圈靠基端侧的内侧周面或者所述第一光圈中的所述红外线传感器侧的任意一方或者双方。
如果是这样的结构,由于具有所述第一光圈,所以从所述镜筒内相比所述第一光圈靠前端侧的内侧周面或其他部件辐射的自身红外线即使通过该第一光圈也无法直接入射到所述红外线传感器,入射到所述红外线吸收结构而被吸收。
并且,在处于所述红外线传感器附近的所述镜筒内,在基端侧的内侧周面或者所述第一光圈的所述红外线侧设置有反射结构,所以能够几乎不产生自身红外线。
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