[发明专利]闪烁器阵列、制造闪烁器阵列的方法、放射线检测器及放射线检查装置

说明书

本发明提供一种闪烁器阵列，其具备第1闪烁器元件、第2闪烁器元件和反射体，该反射体设置于第1及第2闪烁器元件之间且第1及第2闪烁器元件之间的宽度为80μm以下。第1及第2闪烁器元件分别具备含有稀土类氧硫化物荧光体的多晶体，多晶体具有面积为1mm以下×1mm以下的放射线入射面。多晶体的晶粒的平均晶体粒径为5μm～30μm，平均晶体粒径由在通过使用扫描型电子显微镜观察多晶体而得到的观察图像上测定的晶粒的平均切片长来定义。存在于多晶体的表面中的缺陷的最大长度或最大直径为40μm以下。

技术领域

本发明的实施方式涉及闪烁器阵列、制造闪烁器阵列的方法、放射线检测器及放射线检查装置。

背景技术

在医疗诊断、工业用非破坏检查等领域中，使用X射线断层照相摄影装置(以下记为X射线CT(Computed Tomography：CT)装置)等放射线检查装置进行检查。X射线CT装置具备照射扇状的扇形波束X射线的X射线管(X射线源)和具有许多X射线检测元件的X射线检测器，且上述X射线管及上述X射线检测元件夹持检查对象而配置。X射线CT装置一边使X射线管相对于检查对象旋转一边从X射线管照射扇形波束X射线，通过X射线检测器收集基于透过检查对象的X射线而形成的X射线吸收数据。之后，通过用计算机对该X射线吸收数据进行解析，由此再生断层图像。

在X射线CT装置的X射线检测器中，广泛使用采用了固体闪烁器的检测元件。使用了固体闪烁器的X射线检测器由于将检测元件小型化而容易增加通道数，所以能够更进一步提高X射线CT装置的析像度。

固体闪烁器例如由陶瓷闪烁器材料构成。该陶瓷闪烁器材料中，稀土类氧硫化物系的荧光体陶瓷(稀土类氧硫化物荧光体)发光效率高，具有适于闪烁器的特性。因此，具备包含由稀土类氧硫化物系的荧光体陶瓷构成的固体闪烁器的检测元件和光电二极管的X射线检测器正在普及。

一直以来进行了与由上述的稀土类氧硫化物荧光体形成的固体闪烁器的透明性或烧结性等有关的各种提议。近年来的X射线CT装置伴随着用于高析像度化的多通道化，需要检测元件的小型化等。进而，为了拍摄微细的组织，开发了检测元件的每个元件的尺寸为以往的1/2以下的检测器。

进而，伴随着X射线CT装置的高析像度化、高精细化，在将基于通过检查对象的X射线而形成的X射线吸收数据用计算机进行解析而再生断层图像时产生的人为因素(疑似图像)成为问题。人为因素是起因于闪烁器阵列的局部的感度的不均匀性等而产生的。若产生人为因素，则为医疗诊断、非破坏检查的障碍，所以期望使闪烁器阵列的感度分布变得更均匀。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第5241979号公报

专利文献2：日本特公平5-16756号公报

发明内容

本发明的实施方式所要解决的课题是抑制来自闪烁器阵列的输出功率的下降的同时降低不均。

实施方式的闪烁器阵列具备第1闪烁器元件、第2闪烁器元件和反射体，该反射体设置于第1及第2闪烁器元件之间且第1及第2闪烁器元件之间的宽度为80μm以下。第1及第2闪烁器元件分别具备含有稀土类氧硫化物荧光体的多晶体，多晶体具有面积为1mm以下×1mm以下的放射线入射面。多晶体的晶粒的平均晶体粒径为5μm～30μm，平均晶体粒径由在通过使用扫描型电子显微镜来观察多晶体而得到的观察图像上测定的晶粒的平均切片长来定义。存在于多晶体的表面的缺陷的最大长度或最大直径为40μm以下。

附图说明

图1是表示固体闪烁器的烧结体的晶粒组织的图。

图2是表示固体闪烁器的烧结体的晶粒组织的图。

图3是表示X射线检测器的构成例的图。

图4是表示闪烁器阵列的构成例的图。