[发明专利]基于交流电磁场检测技术的缺陷判别方法有效
| 申请号： | 201810033298.4 | 申请日： | 2018-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN108562638B | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 袁新安;李伟;陈国明;杨伟超;刘向阳;蒋维宇 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学（华东） |
| 主分类号： | G01N27/82 | 分类号： | G01N27/82 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266580 山东省青岛市*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 交流 电磁场 检测 技术 缺陷 判别 方法 | ||
【权利要求书】：
1.基于交流电磁场检测技术的缺陷判别方法，应用于基于交流电磁场检测技术的缺陷特征信号，其特征在于，包括：
接收输入的缺陷特征信号，其中所述缺陷特征信号包含缺陷引起的Bz信号和外界因素引起的噪声扰动信号；
对所述缺陷特征信号求一阶导数，并同时判断所述一阶导数是否大于零；如果是，将所述一阶导数乘以大于1的数N0，并输入到低通滤波器；如果否，将所述一阶导数乘以小于1的正数M0，并输入到低通滤波器；
判断所述低通滤波器输出的缺陷判别信号是否大于等于预设阈值P0；如果是，判断有缺陷存在；如果否，判断缺陷不存在；
所述接收输入的缺陷特征信号之前，包括：
接收检测探头输入的至少一次样本缺陷特征信号；
根据所述至少一次样本缺陷特征信号获取所述预设阈值P0；
接收检测探头输入的单通道缺陷特征信号；
获取所述缺陷特征信号的Bz信号和噪声扰动信号；
所述N0等于100，所述M0等于0.1；
对所述缺陷特征信号求一阶导数，并同时判断所述一阶导数是否大于零，包括：对所述缺陷特征信号求一阶导数包括借助labview软件控件求一阶导数和matlab软件编程求一阶导数；
所述低通滤波器为六阶Butterworth低通滤波器。
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