[发明专利]一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备

权利要求书

1.一种显示面板的检测方法，包括：选取显示基板上的检测点；按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点；其特征在于，所述检测点对应间隔单元或像素单元，在按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点之后，还包括：

根据所述检测点与所述四个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；

根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元；

所述根据所述检测点与所述四个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，包括：

将所述检测点与四个对比点的灰阶值按大小排序；

选取第三个灰阶值作为标准值，并将所述检测点的灰阶值与所述标准值作比较；

若所述检测点的灰阶值与所述标准值之差大于设定值，则判定所述检测点为显示面板上的缺陷；

所述判定所述检测点为显示面板上的缺陷，包括：

当所述设定对比间距为标准像素间距时，判定所述检测点为显示面板上的所述第一缺陷；

当所述设定对比间距为标准间隔单元间距时，判定所述检测点为显示面板上的所述第二缺陷。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，包括：

检测出所述显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合。

3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元，包括：

对所述第一位置坐标集合和所述第二位置坐标集合求交集，得到所述像素缺陷的位置坐标集合；

根据所述像素缺陷的位置坐标集合求所述第二位置坐标集合的补集，得到所述缺损间隔单元的位置坐标集合。

4.一种显示面板的检测装置，包括检测点选取模块和对比点选取模块，所述检测点选取模块用于选取显示基板上的检测点，所述对比点选取模块用于按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点；其特征在于，所述检测点对应间隔单元或像素单元，所述显示面板的检测装置还包括：

缺陷检测模块，用于根据所述检测点与所述四个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；

缺损间隔单元确定模块，用于根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元；

所述缺陷检测模块包括：

灰阶值排序单元，用于将所述检测点与四个对比点的灰阶值按大小排序；

灰阶值对比单元，用于选取第三个灰阶值作为标准值，并将所述检测点的灰阶值与所述标准值作比较；

缺陷判断单元，用于若所述检测点的灰阶值与所述标准值之差大于设定值，则判定所述检测点为显示面板上的缺陷；

所述缺陷判断单元用于：

当所述设定对比间距为标准像素间距时，判定所述检测点为显示面板上的所述第一缺陷；

当所述设定对比间距为标准间隔单元间距时，判定所述检测点为显示面板上的所述第二缺陷。

5.根据权利要求4所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述缺陷检测模块包括：

坐标集合检测单元，用于检测出所述显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合。

6.根据权利要求5所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述缺损间隔单元确定模块包括：

像素缺陷位置坐标集合计算单元，用于像素缺陷的位置坐标集合对所述第一位置坐标集合和所述第二位置坐标集合求交集，得到所述像素缺陷的位置坐标集合；

缺损间隔单元位置坐标集合计算单元，用于根据所述像素缺陷的位置坐标集合求所述第二位置坐标集合的补集，得到所述缺损间隔单元的位置坐标集合。

7.一种自动光学检测设备，包括显示面板的检测装置；所述显示面板的检测装置包括：

检测点选取模块，用于选取显示基板上的检测点；

对比点选取模块，用于按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点；

其特征在于，所述检测点对应间隔单元或像素单元，所述设定对比间距包括标准像素间距或标准间隔单元间距；所述显示面板的检测装置还包括：

缺陷检测模块，包括坐标集合检测单元，所述坐标集合检测单元用于检测出所述显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合；

缺损间隔单元确定模块，包括像素缺陷位置坐标集合计算单元和缺损间隔单元位置坐标集合计算单元；其中，所述像素缺陷位置坐标集合计算单元用于像素缺陷的位置坐标集合对所述第一位置坐标集合和所述第二位置坐标集合求交集，得到所述像素缺陷的位置坐标集合；所述缺损间隔单元位置坐标集合计算单元用于根据所述像素缺陷的位置坐标集合求所述第二位置坐标集合的补集，得到所述缺损间隔单元的位置坐标集合。