[发明专利]一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备有效
申请号: | 201810189902.2 | 申请日: | 2018-03-08 |
公开(公告)号: | CN108508637B | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 何怀亮 | 申请(专利权)人: | 惠科股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 潘登 |
地址: | 518108 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示 面板 检测 方法 装置 自动 光学 设备 | ||
本发明实施例公开了一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备,其中,显示面板的检测方法包括:选取显示基板上的检测点,其中,检测点对应间隔单元或像素单元;按照设定对比间距在检测点的周围选取至少2个对比点;根据检测点与2个对比点的灰阶值,判断检测点是否为显示面板上的缺陷,以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷,其中,所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷,所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元;根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元。本发明实施例现有的检测支撑柱丢失的方法对计算机资源消耗巨大、耗时长的问题,可高效率地检测出缺损间隔单元,节省计算机资源,节约显示设备的生产时间。
技术领域
本发明实施例涉及显示技术,尤其涉及一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备。
背景技术
液晶显示器凭借其低重量、低功耗、高清晰和被动发光等优点成为目前主流显示器件,广泛应用于手机、电脑、电视等电子显示产品中。液晶显示器由于复杂的生产工艺,存在诸多有待解决的问题,其中,显示基板(如彩膜基板)上支撑柱丢失为常见的问题之一。支撑柱丢失会影响液晶屏盒厚,导致出现重力mura或者真空泡,而且由于液晶屏少了支撑,也会严重降低液晶屏的抗按压能力。
目前,检测支撑柱丢失的方式普遍是通过自动光学检测(Automatic OpticInspection,AOI)设备使用对比法进行计算,基本原理为:AOI设备先计算出正常状态下的支撑柱分布图,然后再与AOI设备检测得到的图像进行对比,计算出差异的位置即是支撑柱丢失的位置。此方法由于需要进行图形比较,对计算机资源消耗巨大,而且比较耗费时间,影响显示设备整体的生产时间。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的是提出一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备,以高效率地检测出缺损间隔单元,节省计算机资源,节约显示设备的生产时间。
为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
在一个实施例中,本发明提供了一种显示面板的检测方法,包括:
选取显示基板上的检测点,其中,所述检测点对应间隔单元或像素单元;
按照设定对比间距在所述检测点的周围选取至少2个对比点;
根据所述检测点与所述至少2个对比点的灰阶值,判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷,以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷,其中,所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷,所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元;
根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元。
在另一个实施例中,本发明提供了一种显示面板的检测装置,包括:
检测点选取模块,用于选取显示基板上的检测点,其中,所述检测点对应间隔单元或像素单元;
对比点选取模块,用于按照设定对比间距在所述检测点的周围选取至少2个对比点;
缺陷检测模块,用于根据所述检测点与所述至少2个对比点的灰阶值,判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷,以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷,其中,所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷,所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元;
缺损间隔单元确定模块,用于根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元。
在又一个实施例中,本发明还提供了一种自动光学检测设备,显示面板的检测装置;所述显示面板的检测装置包括:
检测点选取模块,用于选取显示基板上的检测点,其中,所述检测点对应间隔单元或像素单元;
对比点选取模块,用于按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点,其中,设定对比间距包括标准像素间距或标准间隔单元间距;
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