[发明专利]离线量测设备及玻璃基板的离线量测方法

说明书

本发明提供了离线量测设备及玻璃基板的离线量测方法，所述离线量测设备包括：实施量测的量测机构、拾取和转移玻璃基板的机械手臂、将玻璃基板进行方向调整的旋转机构。本发明通过在离线量测设备上增加旋转机构，以及改进机械手臂和量测机构，使旋转机构、机械手臂和量测机构相互配合，进而实现对不同类型玻璃基板的量测和流片。

技术区域

本发明涉及显示技术区域，具体涉及一种离线量测设备及玻璃基板的离线量测方法。

背景技术

在薄膜晶体管(简称TFT(Thin Film Transistor))液晶面板的制作过程中，阵列基板与彩膜基板经过聚酰亚胺液的配向后，在阵列基板和彩膜基板之间进行液晶滴注，并进行对组贴合切割，这一制程称为液晶盒制程(简称Cell制程)。

在Cell制程中，框胶113(Sealant)是提供阵列基板和彩膜基板贴合密封成液晶盒的基材，但是在进行框胶113涂布时易发生外溢至相邻阵列基板的外围电路区域112，造成对液晶面板的污染113a，进而导致外围电路接触不良的制程问题，如图1所示。

在玻璃基板1上，阵列基板11在玻璃基板上的排列方式为边靠边(Side By Side)规则排布,为了改善框胶113对外围电路区域112的污染问题，通常在玻璃基板1上采用阵列基板11背靠背(Back By Back)的排版设计，在现有边靠边的设计基础上，将阵列基板11短边相邻的阵列基板旋转180°，进而可以有效的改善框胶对外围驱动电路接线区的污染问题，此外验证此设计可有效增大玻璃基板的利用面积，目前ITP(In-cell Touch Panel)面板产品均采用背靠背(Back By Back)的排版设计。

在玻璃基板1上，为了提高整张玻璃基板的综合利用率，根据阵列基板11在玻璃基板1上的排布方向将玻璃基板1分为竖版和横版，竖版指的是阵列基板11的长边与玻璃基板1的长边方向平行，横版指的是阵列基板11的短边与玻璃基板1的长边方向平行。以竖版的玻璃基板1为例，在5.5吋全高清产品的阵列基板边靠边排版如图2所示，5.5吋ITP产品的阵列基板背靠背排版如图3所示。

在液晶面板的制作过程中，需要对玻璃基板1上各部件的功能进行量测，这一过程需要在离线(offline)量测设备上进行，如阵列基板电性良率量测设备。因部分离线量测设备的机构设计等原因，在对玻璃基板进行量测的时候，需将玻璃基板放置在离线量测设备上符合方向和位置的要求，外围电路区域112靠近机械手臂方向放置5a，显示区域111靠近操作台方向5b放置，以避免离线量测设备各部件之间发生相互干涉和碰撞，进而完成阵列基板11的电性良率量测。

在阵列基板电性良率量测设备对阵列基板11进行量测时，将玻璃基板正确的放置在阵列基板量测设备上，探针41与阵列基板31的测试端子313连接进而输入电信号，进而进行阵列基板亮暗像素缺陷、亮暗线缺陷、画面异常的量测，具体的量测结构示意图如图4和图5所示。

但是目前的离线量测设备主要是针对边靠边(Side By Side)式玻璃基板进行量测，并未考虑边靠边(Side By Side)式玻璃基板特殊的阵列基板分布，因此目前亟需一种离线量测设备及玻璃基板的离线量测方法，能够既完成对边靠边(Side By Side)式玻璃基板的量测，也能完成背靠背(Back By Back)式玻璃基板的量测。

发明内容

本发明提供了一种离线量测设备及玻璃基板的离线量测方法，以解决现有技术中对待量测玻璃基板的放置位置和方向有要求的离线量测设备，无法实现对背对背式玻璃基板进行量测和流片的问题。

为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：

根据本发明的一个方面，提供了一种离线量测设备，用于对玻璃基板进行自动量测，所述离线量测设备包括：量测机构、机械手臂、旋转机构；