[发明专利]X射线相位差成像装置有效

专利信息
申请号: 201810653082.8 申请日: 2018-06-22
公开(公告)号: CN109106387B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 堀场日明;白井太郎;土岐贵弘;佐野哲;森本直树 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 相位差 成像 装置
【说明书】:

发明提供一种X射线相位差成像装置。该X射线相位差成像装置具备多个光栅和用于保持多个光栅中的各个光栅的光栅保持部。多个光栅被配置成在与X射线的光轴正交的面内多个光栅的光栅构成部分延伸的方向沿着因光栅保持部引起的位置偏移最大的方向。

技术领域

本发明涉及一种X射线相位差成像装置,特别是涉及一种利用塔尔博特干涉仪生成吸收像、相位微分像以及暗视场像的X射线相位差成像装置。

背景技术

以往,已知一种利用塔尔博特干涉仪生成吸收像、相位微分像以及暗视场像的X射线相位差成像装置。这种X射线相位差成像装置例如在国际公开第2014/030115号中被公开。

国际公开第2014/030115号中公开的X射线相位差成像装置具备X射线源、多狭缝、相位光栅、吸收光栅、检测器以及使相位光栅进行步进移动的步进装置。国际公开第2014/030115号中公开的X射线相位差成像装置使相位光栅进行步进移动并进行拍摄,由此除了能够生成吸收像以外,还能够生成相位微分像和暗视场像。此外,“相位微分像”是指根据在X射线通过了被摄体时产生的X射线的相位的偏移来进行图像化所得到的像。另外,“暗视场像”是指根据基于物体的小角度散射的Visibility的变化而得到的Visibility像。另外,暗视场像也被称为小角度散射像。“Visibility”是指清晰度。

在此,塔尔博特干涉仪被设计成,吸收光栅的周期与在离相位光栅规定距离(塔尔博特距离)的位置处形成的相位光栅的自身像的周期相同。另外,塔尔博特干涉仪利用包括用于在光栅的初始位置的调整、拍摄时使光栅平移的移动机构的光栅保持部来保持各光栅。而且,塔尔博特干涉仪一边使吸收光栅沿着与光栅构成部分延伸的方向正交的方向每次平移规定距离一边进行拍摄,由此能够生成相位微分像和暗视场像。此外,“光栅构成部分”是指光栅的X射线透过部和X射线遮蔽部(X射线相位变化部)。

塔尔博特干涉仪一边使相位光栅或吸收光栅进行步进移动一边进行拍摄,由此在检测器的各像素中获取所检测到的X射线的检测信号曲线(以下,称为“步进曲线”)。而且,塔尔博特干涉仪能够基于通过不配置被摄体就进行拍摄而获取到的步进曲线和通过配置被摄体后进行拍摄而获取到的步进曲线,来生成相位微分像和暗视场像。

然而,关于国际公开第2014/030115号中公开的X射线相位差成像装置,在拍摄中由于保持光栅的光栅保持部引起各光栅在与X射线的光轴方向正交的面内发生位置偏移的情况下,相位光栅的自身像与吸收光栅的相对位置发生偏移。在相位光栅的自身像与吸收光栅的相对位置发生了在与光栅的光栅构成部分延伸的方向正交的方向上的位置偏移的情况下,存在以下问题:所获取的步进曲线的形状变化,因此所生成的相位微分像和暗视场像的图像质量劣化。

本发明是为了解决上述问题而完成的,本发明的一个目的在于提供如下一种X射线相位差成像装置:即使在与X射线的光轴方向正交的面内由于光栅保持部引起光栅发生位置偏移的情况下,也能够抑制所获取的图像的图像质量劣化。

发明内容

为了实现上述目的,本发明的一个方面的X射线相位差成像装置具备: X射线源;检测器,其检测从X射线源照射的X射线;多个光栅,所述多个光栅被配置在X射线源与检测器之间;控制部,其基于由检测器检测到的通过了多个光栅的X射线的检测信号,来生成图像;以及光栅保持部,其用于保持多个光栅中的各个光栅,其中,多个光栅被配置成在与X射线的光轴正交的面内多个光栅的光栅构成部分延伸的方向沿着因光栅保持部引起的位置偏移最大的方向。

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