[发明专利]X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法有效
申请号: | 201810654573.4 | 申请日: | 2018-06-22 |
公开(公告)号: | CN109106388B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 佐野哲;白井太郎;土岐贵弘;堀场日明;森本直树 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 成像 装置 以及 图像 合成 方法 | ||
本发明提供一种X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法。该X射线成像装置具备图像处理部,该图像处理部基于第一吸收像中的被摄体的位置与第二吸收像中的被摄体的位置之间的差异量来进行第一暗视场像与第二暗视场像的位置对准。
技术领域
本发明涉及X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法,特别是涉及利用塔尔博特劳厄干涉仪生成吸收像、相位微分像以及暗视场像的X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法。
背景技术
以往,已知一种利用塔尔博特劳厄干涉仪生成吸收像、相位微分像以及暗视场像的X射线成像装置。这种X射线相位成像装置例如在日本特开 2012-16370号公报中被公开。
在日本特开2012-16370号公报中公开了以下的X射线成像装置:根据使光栅沿周期方向按1/9个周期等间隔地平移所得到的九张图像,来生成吸收像、相位微分像以及暗视场像。此外,“相位微分像”是指根据在X射线通过了被摄体时产生的X射线的相位的偏移来进行图像化所得到的像。另外,“暗视场像”是指根据基于物体的小角度散射的Visibility的变化而获得的 Visibility像。另外,暗视场像也被称为小角度散射像。“Visibility”是指清晰度。
在此,在无损检查、医疗用途中存在想要确认被摄体内部的细微构造的情况。一般地,在用X射线成像装置获取的吸收像中难以确认至被摄体的内部的细微构造,但根据日本特开2012-16370号公报中公开的暗视场像、相位微分像,能够确认在吸收像中无法确认的被摄体的内部构造。
发明内容
然而,在拍摄暗视场像、相位微分像时,在由被摄体内部的细微构造引起的X射线的扩散存在指向性的情况下,根据光栅的光栅图案的朝向与被摄体的朝向(扩散方向)的关系,由被摄体内部的细微构造引起的X射线的扩散方向中的一个方向的成分被强调,存在有时难以将细微构造的整体详细地图像化这样的缺陷。在该情况下,认为能够通过以位置对准等方式将改变光栅的光栅图案的朝向与被摄体的朝向之间的关系并进行拍摄所得到的多个图像进行合成来掌握被摄体内部的细微构造的详细内容。但是,在将暗视场像、相位微分像进行合成的情况下存在以下问题:在光栅的光栅图案的朝向与被摄体的朝向不同的情况下,所获得的图像中的被摄体的形状不同,无法进行位置对准。
本发明是鉴于上述问题而完成的,本发明的一个目的在于,提供一种即使在根据光栅的光栅图案的朝向与被摄体的朝向的位置关系而拍摄到的被摄体的形状不同的情况下也能够进行图像的位置对准的X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法。
为了实现上述目的,本发明的第一方面的X射线成像装置具备:X射线源;检测器,其检测从X射线源照射的X射线;多个光栅,所述多个光栅配置在X射线源与检测器之间,包括被照射来自X射线源的X射线的第一光栅和被照射通过了第一光栅的X射线的第二光栅;以及图像处理部,其根据由检测器检测到的X射线的强度分布来生成包括吸收像的第一图像以及在与第一图像相同的配置下拍摄到的包括吸收像以外的像的第二图像,其中,图像处理部构成为:基于在互不相同的两轴方向上将多个光栅和被摄体配置成第一相对位置和第二相对位置后拍摄到的图像中的、第一相对位置时的第一图像中的被摄体的位置与第二相对位置时的第一图像中的被摄体的位置的差异量,来进行第一相对位置时的第二图像与第二相对位置时的第二图像的位置对准。此外,在本说明书中,“位置的差异量”是指获取到的图像中的被摄体的坐标的差异。另外,“第一相对位置”和“第二相对位置”是指将被摄体和多个光栅配置配置成多个光栅与被摄体在X射线的光轴方向上的位置关系相同且光栅的光栅图案的朝向与被摄体的朝向互不相同的配置的相对位置。另外,在第一相对位置和第二相对位置时将被摄体倾斜地配置的情况下,使各个相对位置时的被摄体倾斜时的旋转轴的方向为同一方向。即,在第一相对位置和第二相对位置时使被摄体倾斜的情况下,通过在同一平面内进行旋转移动来使被摄体倾斜。
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