[发明专利]一种快速鉴定荧光粉质量的方法及装置

说明书

本发明涉及一种快速鉴定荧光粉质量的方法及装置，其方法是通过测试荧光粉在不同温度下的光衰来反映荧光粉的受热发光效率，通过对受热发光效率的对比来判断荧光粉的质量，本发明还提供了实现上述方法步骤的装置。

技术领域

本发明涉及LED封装材料测试领域，具体是涉及一种快速鉴定荧光粉质量的方法及装置。

背景技术

荧光粉的好坏与LED灯珠光参数的多少以及使用寿命的长短息息相关，对于荧光粉的检测目前有多种方法，如将荧光粉置于高温高压环境中一段时间后，测试荧光粉的光衰情况。其中将荧光粉封装在灯珠内部进行长时间老化是目前现有方法中最为常规并广泛运用的手段。

但由于以上方法所需要的检验周期较长(老化一般为1000H后再对荧光粉进行初步判断)，并且老化过程中，LED的胶水、支架老化带来实验误差，以及老化过程对环境的恒温控制较难都会导致的实验数据出现误差。为减少以上误差往往是多做几组整灯，甚至多次验证以达到实验目的。以上问题给实验人员带来数据不准确，实验周期长的缺点。

发明内容

本发明旨在提供一种快速鉴定荧光粉质量的方法及装置，以解决上述的问题。

具体方案如下：

一种快速鉴定荧光粉质量的方法，包括以下步骤：

S1、准备荧光粉激发光源和一加热板，所述荧光粉激发光源能够出射特定波长的光束，所述加热板上具有一透光孔，荧光粉激发光源出射的光束能够穿过透光孔并进入至光检测系统内检测其光通量。

S2、将加热板维持在温度T1，测试荧光粉激发光源出射的光束穿过透光孔后的光通量Φ1；

S3、将加热板升温并维持在温度T2，测试荧光粉激发光源出射的光束穿过透光孔后的光通量Φ2，获得Φ2与Φ1的比值n，即n＝Φ2/Φ1；

S4、在透光孔内装入待测荧光粉，分别在温度T1和温度T2下的光通量Φ3和Φ4，获得该待测荧光粉的受热发光效率N，即N＝(Φ4/Φ3)*n；

S5、重复上述步骤S2-S4对多款荧光粉进行测试，并获得其对应的受热发光效率N1、N2、N3……，根据待测荧光粉的受热发光效率N的数值即可判断出多款荧光粉之间相对的质量，其N的数值越大，代表其对应的荧光粉质量越好。

进一步的，所述荧光粉激发光源出射的光束照射在加热板上形成的光斑为直径不超过1cm的圆形光斑。

进一步的，所述透光孔是宽度为1mm、长度不超过1cm的矩形狭缝。

进一步的，所述荧光粉激发光源出射的光束的波长为450nm～460nm。

进一步的，所述温度T1为20～30℃，所述温度T2为95～105℃。

进一步的，所述温度T1为25℃，所述温度T2为100℃。

本发明还提供了一种快速鉴定荧光粉质量的装置，包括荧光粉激发光源、一加热板和光检测系统，所述荧光粉激发光源能够出射特定波长的光束，所述加热板上具有一透光孔，所述光检测系统包括积分球和光谱辐射分析仪，荧光粉激发光源出射的光束穿过透光孔并进入至积分球内并通过光谱辐射分析仪获得积分球内的光线的光通量。

进一步的，所述荧光粉激发光源包括蓝光光源组件和聚光透镜组件，所述荧光粉激发光源出射的光线经过聚光透镜组件聚光后照射在加热板上形成的光斑为直径不超过1cm的圆形光斑。

进一步的，所述透光孔是宽度为1mm、长度不超过1cm的矩形的狭缝。

本发明提供的快速鉴定荧光粉质量的方法与现有技术相比较具有以下优点：本发明提供的方法用相同的光源积发荧光粉并且在常温温度以及作用温度下测量其光通量，以获得该荧光粉受热发光效率，根据受热发光效率的数值就可以横向对比出不同荧光粉之间的质量。