[发明专利]一种变频电机相电流调控方法、参数检测方法和装置有效

专利信息
申请号: 201810925116.4 申请日: 2018-08-14
公开(公告)号: CN109167544B 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 陈搏;陈跃;刘启武 申请(专利权)人: 四川虹美智能科技有限公司
主分类号: H02P21/14 分类号: H02P21/14;H02P21/22
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 李世喆
地址: 621050 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 变频 电机 相电流 调控 方法 参数 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种变频电机相电流调控方法,其特征在于,应用于变频电机参数检测,预设电流差阈值和各种类型变频电机的标准相电流,还包括:

确定待检测变频电机的类型和待检测参数;

根据所述待检测变频电机的类型,从预设的各种类型变频电机的标准相电流,查找所述待检测变频电机的标准相电流;

根据所述待检测参数,向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波;

检测所述待检测变频电机的流入相电流;

如果|Ii-Ib|>Y,则调控目标相线圈对应的PWM波占空比,直至|Ii-Ib|≤Y,其中,所述目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈,Ii表征所述流入相电流,Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流;Y表征所述电流差阈值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,进一步包括:为每一种待检测参数,预设PWM波的初始占空比;

所述根据所述待检测参数,向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波,包括:

根据所述待检测参数,查找所述待检测参数对应的目标初始占空比;

按照所述目标初始占空比,向待检测变频电机的至少一个相线圈输送PWM波。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述检测所述待检测变频电机的流入相电流,如果|Ii-Ib|>Y,则调控目标相线圈对应的PWM波的占空比,直至|Ii-Ib|≤Y,包括:

当接收PWM波的相线圈的个数为一个时,循环执行下述N1至N4:

N1:上一次调控之后,检测所述待检测变频电机的流入相电流;

N2:将流入相电流与标准相电流进行对比,如果|Ii-Ib|>Y,则执行N3,如果|Ii-Ib|≤Y,则执行N4;

N3:判断Ii是否大于Ib,如果是,则根据下述第一占空比计算公式,计算本次调控后的占空比,按照本次调控后的占空比,为目标相线圈减小PWM波占空比,并将本次调控作为上一次调控,执行N1;否则,则根据下述第二占空比计算公式,计算本次调控后的占空比,按照计算得到的本次调控后的占空比,为目标相线圈加大PWM波占空比,并将本次调控作为上一次调控,执行N1;

第一占空比计算公式:

Zan=Za(n-1)-ΔZa

第二占空比计算公式:

Zan=Za(n-1)+ΔZa

其中,Zan表征本次调控后的占空比;Za(n-1)表征本次调控之前的占空比;ΔZa表征预设的占空比调控常数;Ii表征所述流入相电流,Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流;Y表征所述电流差阈值;

N4:停止调控,并结束循环;

当接收PWM波的相线圈的个数为两个时,循环执行下述M1至M4;

M1:上一次调控之后,检测所述待检测变频电机的流入相电流;

M2:将流入相电流与标准相电流进行对比,如果|Ii-Ib|>Y,则执行M3,如果|Ii-Ib|≤Y,则执行M4;

M3:判断Ii是否大于Ib,如果是,则根据下述第一占空比计算公式组,计算本次调控后的占空比,按照本次调控后的占空比,为目标相线圈减小PWM波占空比,为输出相电流对应的至少一个相线圈增加PWM波占空比;并将本次调控作为上一次调控,执行M1;否则,则根据下述第二占空比计算公式组,计算本次调控后的占空比,按照计算得到的本次调控后的占空比,为目标相线圈加大PWM波占空比,为输出相电流对应的至少一个相线圈减小PWM波占空比,并将本次调控作为上一次调控,执行M1;

第一占空比计算公式组:

第二占空比计算公式组:

其中,Zan表征本次调控后的目标相线圈中PWM波占空比;Za(n-1)表征本次调控之前的目标相线圈中PWM波占空比;ΔZa表征预设的占空比调控常数;n表征本次调控的相线圈的个数;Zbn表征本次调控后的输出相电流对应的相线圈中PWM波占空比;Zb(n-1)上一次调控后的输出相电流对应的相线圈中PWM波占空比;

M4:停止调控,并结束循环。

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