[发明专利]一种液晶面板对位检测装置及方法

权利要求书

1.一种液晶面板对位检测装置，其特征在于，所述装置包括电压源、电流源、平板电极以及电容测量模块；

所述平板电极与待测标记图案相同，并在检测时与所述待测标记相对放置组成平板电容器；

所述平板电容器与所述电压源、电流源组成串联电路；

所述电容测量模块分别电连接所述平板电极和所述接待测标记，用于测量所述平板电容器的电容值以进行对位检测。

2.如权利要求1所述的液晶面板对位检测装置，其特征在于，所述平板电极为可更换平板电极，根据不同的待测标记图案更换具有相应图案的平板电极。

3.如权利要求1所述的液晶面板对位检测装置，其特征在于，所述平板电极包括L型图案平板电极、圆形图案平板电极。

4.一种液晶面板对位检测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

将与待测标记图案相同的平板电极与所述待测标记相对放置，组成平板电容器；

将所述平板电容器与电压源、电流源电连接，组成串联电路；

对所述平板电容器的进行电容值测量，获取电容测量值；

将所述电容测量值与所述平板电容器的电容计算值比较，以完成对位检测。

5.如权利要求4所述的液晶面板对位检测方法，其特征在于，所述方法进一步包括：根据不同的待测标记图案更换具有相应图案的平板电极。

6.如权利要求4所述的液晶面板对位检测方法，其特征在于，所述电容计算值为：

C＝ε*ε0*S/d，

其中，C为所述电容计算值，单位F；ε为相对介电常数，单位F/m；ε0为真空介电常数，单位F/m；S为所述待测标记与所述平板电极相对面的面积，单位m²；d为所述待测标记与所述平板电极之间的极板间距，单位m。

7.如权利要求4所述的液晶面板对位检测方法，其特征在于，所述的将所述电容测量值与所述平板电容器的电容计算值比较，以完成对位检测的步骤进一步包括：

判断所述电容测量值与所述电容计算值之间的差值是否在预设差值范围内，若在预设差值范围内，则判定对位正确。