[发明专利]一种液晶面板对位检测装置及方法

说明书

本发明揭露一种液晶面板对位检测装置及方法，通过将平板电极与待测标记相对放置组成平板电容器，并与电压源、电流源组成串联电路，再通过电容测量模块测量平板电容器的电容值，根据测量所得电容测量值即可进行对位检测。可以对厂内液晶面板制作过程中阵列测试、成盒测试、COF接合等采用光学对位较为困难的测试项目，可实现高精度对位检测，而且检测装置成本较低，检测方式简单易操作。

技术领域

本发明涉及液晶面板技术领域，尤其涉及一种可以提高液晶面板对位精度的液晶面板对位检测装置及方法。

背景技术

随着光电与半导体技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)也得到了蓬勃发展。在诸多液晶显示器中，薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film TransistorLiquid Crystal Display，简称TFT-LCD)具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等优越特性。在当今信息社会，TFT-LCD已经广泛应用于生活的各个方面，从小尺寸的手机、摄像机、数码相机，中尺寸的笔记本电脑、台式机，大尺寸的家用电视，到大型投影设备等。TFT-LCD在轻、薄优势的基础上，加上完美的画面及快速的响应特性，在显示器市场上独占鳌头。

目前的TFT-LCD液晶面板检测(test)设备基本上都是通过光学影像测量仪进行对位。光学影像测量仪是集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的设备。其检测原理是：由光学放大系统对被测物体进行放大，经过CCD摄像系统采集影像特征并送入计算机，通过计算获取检测被测物体表面形状尺寸、角度及位置，并在屏幕上产生图形供操作员进行图影对照，从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。但是光学影像测量仪设备较为昂贵，维护复杂。

参考图1，常见的金属材质对位标记示意图。有些被测物体的对位标记(mark)属于金属材质，比如常见的“L”型mark(如图标号11所示)，COF接合(bonding)mark(如图标号12所示)等。金属材质的对位标记具有反光不透光特点，采用光学对位较难实现。

因此，如何有效且简单的对液晶面板进行高精度对位，特别是对采用光学进行对位较为困难的测试项目进行对位检测成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种液晶面板对位检测装置及方法，可以实现有效且简单的对液晶面板进行高精度对位检测，特别是对采用光学进行对位较为困难的测试项目进行对位检测。

为实现上述目的，本发明提供了一种液晶面板对位检测装置，所述装置包括电压源、电流源、平板电极以及电容测量模块；所述平板电极与待测标记图案相同，并在检测时与所述待测标记相对放置组成平板电容器；所述平板电容器与所述电压源、电流源组成串联电路；所述电容测量模块分别电连接所述平板电极和所述接待测标记，用于测量所述平板电容器的电容值以进行对位检测。

为实现上述目的，本发明还提供了一种液晶面板对位检测方法，所述方法包括如下步骤：将与待测标记图案相同的平板电极与所述待测标记相对放置，组成平板电容器；将所述平板电容器与电压源、电流源电连接，组成串联电路；对所述平板电容器的进行电容值测量，获取电容测量值；将所述电容测量值与所述平板电容器的电容计算值比较，以完成对位检测。

本发明的优点在于：本发明通过将平板电极与待测标记相对放置组成平板电容器，并与电压源、电流源组成串联电路，再通过电容测量模块测量平板电容器的电容值，根据测量所得电容测量值即可进行对位检测。可以对厂内液晶面板制作过程中阵列测试、成盒测试、COF接合等采用光学对位较为困难的测试项目，可实现高精度对位检测，而且检测装置成本较低，检测方式简单易操作。

附图说明